[发明专利]一种测定钴基合金中硅、锰、钼、铁、钨含量的方法在审
| 申请号： | 201711287834.5 | 申请日： | 2017-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN109900679A | 公开（公告）日： | 2019-06-18 |
| 发明（设计）人： | 刘思思;李虹;史文斌;李晓晴 | 申请（专利权）人： | 上海电气电站设备有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73;G01N1/44 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 许亦琳 |
| 地址： | 201108 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测定钴基合金中硅、锰、钼、铁、钨含量的方法，包括以下步骤：1）样品前处理：称取钴基合金样品，加入消解剂，进行微波消解后冷却，再加入饱和硼酸溶液进行密闭反应后，转移、定容，获得样品溶液；2）标准溶液的配制：选取基质溶液，加入待测元素，配成标准溶液；3）测定：分别将配制的标准溶液、样品溶液进行电感耦合等离子体原子发射光谱仪检测，采用标准曲线法进行定量，获得样品溶液中硅、锰、钼、铁、钨元素的含量。本发明提供的一种测定钴基合金中硅、锰、钼、铁、钨含量的方法，采用优选的消解试剂、优选条件的微波密闭消解法和ICP‑AES测定法，操作简单、精密度好、准确度高，具有较好的推广、应用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 钴基合金 标准溶液 样品溶液 配制 消解 电感耦合等离子体原子发射光谱仪 饱和硼酸溶液 标准曲线法 样品前处理 准确度 基质溶液 密闭反应 微波消解 优选条件 测定法 后冷却 钨元素 消解剂 密闭 称取 定容 优选 微波 检测 应用 | ||
【主权项】：
1.一种测定钴基合金中硅、锰、钼、铁、钨含量的方法，包括以下步骤：1)样品前处理：称取钴基合金样品，加入消解剂，进行微波消解后冷却，再加入饱和硼酸溶液进行密闭反应后，转移、定容，获得样品溶液；2)标准溶液的配制：选取基质溶液，加入待测元素，配成标准溶液；3)测定：分别将步骤2)配制的标准溶液、步骤1)中样品溶液进行电感耦合等离子体原子发射光谱仪检测，采用标准曲线法进行定量，获得样品溶液中硅、锰、钼、铁、钨元素的含量。
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