[发明专利]集成电路直流参数I-V曲线测试系统

摘要

本发明公开了集成电路直流参数I‑V曲线测试系统，包括测试模块、USB2.0通讯模块、主控模块、显示模块、报表生成模块、ACCESS数据库管理模块和自检和校准软件模块，所述测试模块检测的数据信息通过USB2.0通讯模块传输到主控模块，本发明集成电路I‑V曲线测试系统釆用USB2.0通讯协议与主机通讯，测试通道最高配置可达2048个，每个通道可配置地、两种电源和引脚信号测试四种模式，主机应用程序为多文档界面，支持Windows XP和Windows 7系统，通用直流参数如静态工作电流、输入引脚的漏电流、引脚的开短路、引脚之间的阻抗分析和IV曲线的测试功能做成测试模块，用户只要在相应的配置界面配置好测试条件就能测试，用户模式在技术人员熟悉DLL函数后可灵活的编程测试逻辑功能。

主权项

1.集成电路直流参数I-V曲线测试系统，包括测试模块(1)、USB2.0通讯模块(2)、主控模块(3)、显示模块(4)、报表生成模块(5)、ACCESS数据库管理模块(6)和自检和校准软件模块(7)，其特征在于：所述测试模块(1)检测的数据信息通过USB2.0通讯模块(2)传输到主控模块(3)，所述主控模块(3)电性连接显示模块(4)、报表生成模块(5)、ACCESS数据库管理模块(6)和自检和校准软件模块(7)。