[发明专利]集成电路直流参数I-V曲线测试系统

说明书

本发明公开了集成电路直流参数I‑V曲线测试系统，包括测试模块、USB2.0通讯模块、主控模块、显示模块、报表生成模块、ACCESS数据库管理模块和自检和校准软件模块，所述测试模块检测的数据信息通过USB2.0通讯模块传输到主控模块，本发明集成电路I‑V曲线测试系统釆用USB2.0通讯协议与主机通讯，测试通道最高配置可达2048个，每个通道可配置地、两种电源和引脚信号测试四种模式，主机应用程序为多文档界面，支持Windows XP和Windows 7系统，通用直流参数如静态工作电流、输入引脚的漏电流、引脚的开短路、引脚之间的阻抗分析和IV曲线的测试功能做成测试模块，用户只要在相应的配置界面配置好测试条件就能测试，用户模式在技术人员熟悉DLL函数后可灵活的编程测试逻辑功能。

技术领域

本发明涉及集成电路直流测试技术领域，具体为集成电路直流参数I-V曲线测试系统。

背景技术

随着集成电路工艺和技术的发展，芯片系统集成发展趋势越来越复杂和庞大，引脚也越来越多达到成百上千，给芯片测试带来了更大的测试难度和挑战。而市场上的中低端测试设备的测试通道都小于256个通道，而高端测试设备通道配置可达2048个，但是价格高达百万美金以上，测试编程复杂，都要专业人士，这样测试费用高，测试时间长。并且高端测试设备全是欧美和日本研发生产，中低端测试设备国内虽有生产，但相对欧美和日本的中低端测试设备明显存在设备落后，升级换代缓慢，市场占有率极低。为提升国内的测试设备自主开发水平，减少和摆脱对国外测试设备的依赖，提高测试效率，减少测试成本，促进国内集成电路产业链的发展。因此，设计一种新型集成电路直流参数I-V曲线测试系统是很有必要的。

发明内容

本发明的目的在于提供集成电路直流参数I-V曲线测试系统，以解决上述背景技术中提出的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：集成电路直流参数I-V曲线测试系统，包括测试模块、USB2.0通讯模块、主控模块、显示模块、报表生成模块、ACCESS数据库管理模块和自检和校准软件模块，所述测试模块检测的数据信息通过USB2.0通讯模块传输到主控模块，所述主控模块电性连接显示模块、报表生成模块、ACCESS数据库管理模块和自检和校准软件模块。

根据上述技术方案，所述测试模块包括引脚开短路测试模块、输入引脚漏电流测试模块、用户模式测试模块、静态电流测试模块和IV曲线测试模块。

根据上述技术方案，所述引脚开短路测试模块包括下位机、矩阵开关模块和测试电路，所述矩阵开关模块包括若干个子模块，且每个子模块包括若干个矩阵开关芯片，每个矩阵开关芯片包括若干个测试通道，所述矩阵开关芯片的控制信号输入端与下位机相连接，所述矩阵开关芯片的测试通道与测试电路相连接，所述矩阵开关芯片的电源输入端设有一个稳压电容，矩阵开关芯片的接地端设有一个稳压电容。

根据上述技术方案，所述静态电流测试模块包括磁感应式电流传感器、电阻板卡、以及与电阻板卡输出端电连接的上位机，电源通过两根电线为被测模块供电，其中两根电线中任意一根穿过磁感应式电流传感器；所述磁感应式电流传感器输出端与电阻板卡的输入端电连接；所述上位机通过控制电阻板卡实时获取被测模块的瞬态电流值，并根据瞬态电流值得到被测模块的静态电流值。

根据上述技术方案，所述主控模块包括USB通讯功能接口电路、FPGA控制电路、DPS电源电路、通道控制电路、SDRAM存储电路、模数转换电路和PMU参数测量电路，所述USB通讯功能接口电路电性连接USB.通讯模块，所数据FPGA控制电路电性连接DPS电源电路、通道控制电路、SDRAM存储电路、模数转换电路和PMU参数测量电路。

根据上述技术方案，所述FPGA控制电路包括一个FPGA，所述FPGA配置成32位NIOSII处理器，所述FPGA通过5个IO口与用户交互并控制烧录电压及烧录流程。