[发明专利]一种传感器设备低温测试台在审
| 申请号: | 201711267545.9 | 申请日: | 2017-12-05 |
| 公开(公告)号: | CN107941261A | 公开(公告)日: | 2018-04-20 |
| 发明(设计)人: | 米正辉;沙鹏;贺斐思;翟纪元 | 申请(专利权)人: | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00;G01L25/00;G01L27/00 |
| 代理公司: | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙)11200 | 代理人: | 司立彬 |
| 地址: | 100049 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明公开了一种传感器设备低温测试台,其特征在于,包括恒温器、综合工装台和预加载装置;所述恒温器内设有一液氦池,所述综合工装台位于所述液氦池内;所述预加载装置包括真空管、传动单元和力加载控制单元,传动单元位于真空管内,力加载控制单元与传动单元连接,力加载控制单元与真空管密封连接,所述真空管通过法兰与所述恒温器的顶部开口密封连接;所述综合工装台的最外层为真空盒,所述真空盒与所述预加载装置的真空管密封连接,所述真空盒内部设有用于安装待测传感器设备的测试工装,所述真空管内的传动单元与所述测试工装连接。本发明测试成本低、效率高,便于操作,易于实现连续变化温度下低温传感器性能的测量。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 传感器 设备 低温 测试 | ||
【主权项】:
一种传感器设备低温测试台,其特征在于,包括恒温器、综合工装台和预加载装置;所述恒温器内设有一液氦池,所述综合工装台位于所述液氦池内;所述预加载装置包括真空管、传动单元和力加载控制单元,所述传动单元位于所述真空管内,所述力加载控制单元与所述传动单元连接,所述力加载控制单元与所述真空管密封连接,所述真空管通过法兰与所述恒温器的顶部开口密封连接;所述综合工装台的最外层为真空盒,所述真空盒与所述预加载装置的真空管密封连接,所述真空盒内部设有用于安装待测传感器设备的测试工装,所述真空管内的传动单元与所述测试工装连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院高能物理研究所,未经中国科学院高能物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711267545.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。





