[发明专利]一种传感器设备低温测试台在审

专利信息
申请号: 201711267545.9 申请日: 2017-12-05
公开(公告)号: CN107941261A 公开(公告)日: 2018-04-20
发明(设计)人: 米正辉;沙鹏;贺斐思;翟纪元 申请(专利权)人: 中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00;G01L25/00;G01L27/00
代理公司: 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙)11200 代理人: 司立彬
地址: 100049 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种传感器设备低温测试台,其特征在于,包括恒温器、综合工装台和预加载装置;所述恒温器内设有一液氦池,所述综合工装台位于所述液氦池内;所述预加载装置包括真空管、传动单元和力加载控制单元,传动单元位于真空管内,力加载控制单元与传动单元连接,力加载控制单元与真空管密封连接,所述真空管通过法兰与所述恒温器的顶部开口密封连接;所述综合工装台的最外层为真空盒,所述真空盒与所述预加载装置的真空管密封连接,所述真空盒内部设有用于安装待测传感器设备的测试工装,所述真空管内的传动单元与所述测试工装连接。本发明测试成本低、效率高,便于操作,易于实现连续变化温度下低温传感器性能的测量。
搜索关键词: 一种 传感器 设备 低温 测试
【主权项】:
一种传感器设备低温测试台,其特征在于,包括恒温器、综合工装台和预加载装置;所述恒温器内设有一液氦池,所述综合工装台位于所述液氦池内;所述预加载装置包括真空管、传动单元和力加载控制单元,所述传动单元位于所述真空管内,所述力加载控制单元与所述传动单元连接,所述力加载控制单元与所述真空管密封连接,所述真空管通过法兰与所述恒温器的顶部开口密封连接;所述综合工装台的最外层为真空盒,所述真空盒与所述预加载装置的真空管密封连接,所述真空盒内部设有用于安装待测传感器设备的测试工装,所述真空管内的传动单元与所述测试工装连接。
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