[发明专利]基于颗粒物无机组分和有机标识物的精细化源解析方法有效
| 申请号： | 201711252425.1 | 申请日： | 2017-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN108052486B | 公开（公告）日： | 2021-03-09 |
| 发明（设计）人： | 田瑛泽;冯银厂;薛倩倩 | 申请（专利权）人： | 南开大学 |
| 主分类号： | G06F17/18 | 分类号： | G06F17/18;G06F17/16 |
| 代理公司： | 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 | 代理人： | 栾志超 |
| 地址： | 300000*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供基于颗粒物无机组分和有机标识物的精细化源解析方法，包括：采集颗粒物样本；测定颗粒物样本中的无机组分和有机组分的含量；根据得到的无机组分含量数据，利用因子分析模型对颗粒物受体进行源解析，得到源谱矩阵和源贡献矩阵；计算有机组分含量与源贡献矩阵的相关系数R1，根据相关系数R1筛选有机组分，识别为有机标识；根据有机标识和无机组分的含量数据，利用因子分析模型对颗粒物受体进行精细化源解析，得到源谱矩阵和源贡献矩阵。该源解析方法利用颗粒物中有机组分与无机组分的关系，以及与无机组分解析贡献的关系，识别有机标识物，对常规组分与有机标识物结合进行精细解析，满足大气颗粒物污染管理对源解析的精细化需求。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 颗粒 无机 组分 有机 标识 精细 解析 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于颗粒物无机组分和有机标识物的精细化源解析方法，其特征在于：包括：第一步、采集颗粒物样本；第二步、测定颗粒物样本中的无机组分和有机组分的含量；第三步、根据得到的无机组分含量数据，利用因子分析模型对颗粒物受体进行源解析，得到第一源谱矩阵和第一源贡献矩阵；第四步、计算有机组分含量与所述第一源贡献矩阵的相关系数R1，根据相关系数R1筛选有机组分，识别为第一有机标识；第五步、根据第一有机标识和无机组分的含量数据，利用因子分析模型对颗粒物受体进行精细化源解析，得到第二源谱矩阵和第二源贡献矩阵。
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