[发明专利]一种激光粒度仪对中调整方法及机构有效
| 申请号： | 201711251505.5 | 申请日： | 2017-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN107991209B | 公开（公告）日： | 2020-07-03 |
| 发明（设计）人： | 党博石;刘英 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N21/47;G01N21/01 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 赵勍毅 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明提供激光粒度仪对中调整机构，包括用于发出激光束的激光器、用于为激光束准直的准直扩束系统、用于承载测试样品的样品循环系统、傅立叶透镜及散射探测器，散射探测器上对应傅立叶透镜焦点的位置设有镂空通孔，在散射探测器背离傅立叶透镜的一侧设有单点探测器，由激光器发出的激光束经过准直扩束系统后变成平行光束，再经过样品循环系统及傅立叶透镜后聚焦在散射探测器所处平面，当无测试样品时调整散射探测器的位置使得平行光束经过傅立叶透镜聚焦后通过镂空通孔，再调整单点探测器的位置使得输出信号最大，利用散射探测器上设置镂空通孔和单点探测器进行光路的对准，实现整个机构的对中，本发明还提供了激光粒度仪对中调整方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 粒度 调整 方法 机构 | ||
【主权项】：
一种激光粒度仪对中调整机构，其特征在于，包括：用于发出激光束的激光器、用于为所述激光束准直的准直扩束系统、用于承载测试样品的样品循环系统、傅立叶透镜及散射探测器，所述散射探测器上对应所述傅立叶透镜焦点的位置设有镂空通孔，在所述散射探测器背离所述傅立叶透镜的一侧设有单点探测器，所述单点探测器的接收方向与所述镂空通孔的中心线共线，由所述激光器发出的激光束经过所述准直扩束系统后变成平行光束，所述平行光束经过所述样品循环系统及所述傅立叶透镜后聚焦在所述散射探测器所处平面，当所述样品循环系统内无测试样品时调整所述散射探测器的位置使得所述平行光束经过所述傅立叶透镜聚焦后通过所述镂空通孔，再调整所述单点探测器的位置使得输出信号最大。
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