[发明专利]一种激光粒度仪对中调整方法及机构

权利要求书

1.一种激光粒度仪对中调整机构，其特征在于，包括：用于发出激光束的激光器、用于为所述激光束准直的准直扩束系统、用于承载测试样品的样品循环系统、傅立叶透镜及散射探测器，所述散射探测器上对应所述傅立叶透镜焦点的位置设有镂空通孔，在所述散射探测器背离所述傅立叶透镜的一侧设有单点探测器，所述单点探测器的接收方向与所述镂空通孔的中心线共线，由所述激光器发出的激光束经过所述准直扩束系统后变成平行光束，所述平行光束经过所述样品循环系统及所述傅立叶透镜后聚焦在所述散射探测器所处平面，当所述样品循环系统内无测试样品时调整所述散射探测器的位置使得所述平行光束经过所述傅立叶透镜聚焦后通过所述镂空通孔，再调整所述单点探测器的位置使得输出信号最大；

还包括分光棱镜及电子显微镜，所述分光棱镜位于所述散射探测器和所述单点探测器之间，通过所述镂空通孔的光线照射在所述分光棱镜处分成两束，其中一束透射后由所述单点探测器接收，另一束反射至所述电子显微镜进行实时观测；

所述散射探测器具有一组同心圆环排布的硅光电二极管阵列，所述镂空通孔位于所述散射探测器的中心，所述镂空通孔的圆心与所述同心圆环的圆心重合；

所述单点探测器采用光电二极管。

2.根据权利要求1所述的激光粒度仪对中调整机构，其特征在于，所述准直扩束系统包括会聚透镜、空间滤波器以及准直透镜，所述激光器发出的激光束经过所述会聚透镜后聚焦，在焦点位置设置所述空间滤波器，经过所述空间滤波器将高阶散射光进行滤除通过呈发散光束的低频激光束，所述低频激光束经过所述准直透镜后形成平行光束。

3.根据权利要求1所述的激光粒度仪对中调整机构，其特征在于，所述样品循环系统包括进料组件、出料组件以及样品池，所述进料组件、所述出料组件以及所述样品池的排布方向与所述激光束的光路方向垂直，所述样品池位于所述进料组件及所述出料组件之间。

4.根据权利要求1所述的激光粒度仪对中调整机构，其特征在于，还包括上位机，所述单点探测器、所述散射探测器分别与所述上位机电性连接，所述单点探测器将接收到的光信号传输至所述上位机，所述上位机根据所述光信号确定透射光强、分析测试样品的浓度以及控制所述激光器的输出光强；

所述探测器在所述样品循环系统中有测试样品时接收到散射能量并转化为电信号采集处理后得到数字图像，所述上位机对所述数字图像进行反演算法计算得到粒度分布。

5.根据权利要求1所述的激光粒度仪对中调整机构，其特征在于，所述激光器为单色激光器。

6.一种激光粒度仪对中调整方法，其特征在于，应用于权利要求1至5中任一项所述的激光粒度仪对中调整机构，所述方法包括：

由激光器发出的激光束经过准直扩束系统后变成平行光束；

所述平行光束照射在样品循环系统及傅立叶透镜聚焦在散射探测器所处平面；

当所述样品循环系统内无测试样品时调整所述散射探测器的位置使得聚焦光斑穿过所述散射探测器上的镂空通孔，直至与所述镂空通孔共线的单点探测器输出的信号能量达到极值时停止调整所述散射探测器的位置；通过电子显微镜实时观测透过所熟识镂空通孔的光斑中心，调整所述散射探测器的位置直至所述光斑中心与所述镂空通孔的圆心重合后停止；

调整所述单点探测器的位置直至输出的信号最大化时停止。