[发明专利]自动测试方法及其测试系统在审
申请号: | 201711228030.8 | 申请日: | 2017-11-29 |
公开(公告)号: | CN107991600A | 公开(公告)日: | 2018-05-04 |
发明(设计)人: | 杨旸 | 申请(专利权)人: | 成都锐成芯微科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610041 四川省成都市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种自动测试方法及其测试系统,涉及集成电路测试领域。该自动测试方法包括以下步骤S1、将上位机、测试设备和被测试设备相互连接通信,并打开预设于所述上位机内的系统配置文件;S2、预设报表及其名称和路径;S3、启动所述上位机,并向所述测试设备发送第一指令以进入第一测试模式,在第一测试模式下向所述报表写入测试数据;S4、保存写入报表的数据并退出。本发明的技术方案中上位机通过与测试设备和被测试设备通信连接,上位机控制测试设备根据预设测试模式对被测试设备进行测试,在测试过程中,上位机可根据预设的测试模式自动调整测试设备、自动读取测试数据并保存,以实现测试系统的自动测试。 | ||
搜索关键词: | 自动 测试 方法 及其 系统 | ||
【主权项】:
一种自动测试方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、将上位机、测试设备和被测试设备相互连接通信,并打开预设于所述上位机内的系统配置文件;S2、预设报表及其名称和路径;S3、启动所述上位机,并向所述测试设备发送第一指令以进入第一测试模式,在第一测试模式下向所述报表写入测试数据;S4、保存写入报表的数据并退出。
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