[发明专利]一种芯片测试系统在审
| 申请号： | 201711218067.2 | 申请日： | 2017-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN108008284A | 公开（公告）日： | 2018-05-08 |
| 发明（设计）人： | 阳媛;高唯欢;胡晓明 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 俞涤炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片测试系统，包括：控制向量单元；输入向量单元；标准单元，输入向量单元用以输出覆盖标准单元工作状态的多个信号组合至标准单元；标准单元在多个信号组合条件下进行测试以输出表示测试结果的多个测试信号；选择单元，控制向量单元用以输出控制信号至选择单元，选择单元在接收标准单元输出的多个测试信号后，根据控制信号将多个测试信号进行整合以形成整合信号输出；输出向量单元，用以接收整合信号并将整合信号通过输出向量单元的输出端口进行输出。其技术方案的有益效果在于，通过增加选择单元，可减少输出向量单元输出端口的数量，减少芯片中PAD数量，并且可有效缩短测试时间，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：控制向量单元；输入向量单元；标准单元，与所述输入向量单元连接，所述输入向量单元用以输出覆盖所述标准单元工作状态的多个信号组合至所述标准单元；所述标准单元在所述多个信号组合条件下进行测试，输出表示测试结果的多个测试信号；选择单元，与所述控制向量单元以及所述标准单元连接；所述控制向量单元用以输出控制信号至所述选择单元，所述选择单元在接收所述标准单元输出的所述多个测试信号后，根据所述控制信号将所述多个测试信号进行整合以形成整合信号输出；输出向量单元，与所述选择单元连接，用以接收所述整合信号并将所述整合信号通过所述输出向量单元的输出端口进行输出。
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