[发明专利]光谱仪及光谱检测系统在审
申请号: | 201711216338.0 | 申请日: | 2017-11-28 |
公开(公告)号: | CN107884387A | 公开(公告)日: | 2018-04-06 |
发明(设计)人: | 牟涛涛 | 申请(专利权)人: | 北京云端光科技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/65 | 分类号: | G01N21/65;G01J3/44 |
代理公司: | 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)11447 | 代理人: | 魏嘉熹,南毅宁 |
地址: | 100048 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本公开涉及一种光谱仪及光谱检测系统。该光谱仪包括透光基体,透光基体的外表面包括第一表面区域、第二表面区域、第三表面区域、第四表面区域和第五表面区域,其中,第一表面区域形成为弧面,其上附着有第一反射膜,以形成准直部;第二表面区域形成为弧面,其上附着有第二反射膜,以形成聚焦部;第三表面区域形成为平面,其上附着有第三反射膜,第三反射膜上设置有多条平行刻槽,以形成光栅;第四表面区域形成为平面,其上设置有入射狭缝;第五表面区域上设置有探测器。由此,可提高生产调试效率和光谱仪检测设备的稳定性,提升光谱仪检测设备的抗震、抗冲击能力。同时,可实现光谱仪的小型化,且聚焦部、准直部等无需单独加工,降低生产成本。 | ||
搜索关键词: | 光谱仪 光谱 检测 系统 | ||
【主权项】:
一种光谱仪,其特征在于,包括:透光基体(1),所述透光基体(1)的外表面包括第一表面区域(11)、第二表面区域(12)、第三表面区域(13)、第四表面区域(14)和第五表面区域(15),其中,所述第一表面区域(11)形成为弧面,且其上附着有第一反射膜(16),以形成准直部(2);所述第二表面区域(12)形成为弧面,且其上附着有第二反射膜(17),以形成聚焦部(3);所述第三表面区域(13)形成为平面,其上附着有第三反射膜(18),并且所述第三反射膜(18)上设置有多条平行刻槽,以形成光栅(4);所述第四表面区域(14)形成为平面,且其上设置有入射狭缝(5);所述第五表面区域(15)上设置有探测器(6),其中,经所述入射狭缝(5)入射的光依次经过所述准直部(2)、所述光栅(4)和所述聚焦部(3)后到达所述探测器(6)。
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