[发明专利]光谱仪及光谱检测系统在审

专利信息
申请号: 201711216338.0 申请日: 2017-11-28
公开(公告)号: CN107884387A 公开(公告)日: 2018-04-06
发明(设计)人: 牟涛涛 申请(专利权)人: 北京云端光科技术有限公司
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65;G01J3/44
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙)11447 代理人: 魏嘉熹,南毅宁
地址: 100048 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本公开涉及一种光谱仪及光谱检测系统。该光谱仪包括透光基体,透光基体的外表面包括第一表面区域、第二表面区域、第三表面区域、第四表面区域和第五表面区域,其中,第一表面区域形成为弧面,其上附着有第一反射膜,以形成准直部;第二表面区域形成为弧面,其上附着有第二反射膜,以形成聚焦部;第三表面区域形成为平面,其上附着有第三反射膜,第三反射膜上设置有多条平行刻槽,以形成光栅;第四表面区域形成为平面,其上设置有入射狭缝;第五表面区域上设置有探测器。由此,可提高生产调试效率和光谱仪检测设备的稳定性,提升光谱仪检测设备的抗震、抗冲击能力。同时,可实现光谱仪的小型化,且聚焦部、准直部等无需单独加工,降低生产成本。
搜索关键词: 光谱仪 光谱 检测 系统
【主权项】:
一种光谱仪,其特征在于,包括:透光基体(1),所述透光基体(1)的外表面包括第一表面区域(11)、第二表面区域(12)、第三表面区域(13)、第四表面区域(14)和第五表面区域(15),其中,所述第一表面区域(11)形成为弧面,且其上附着有第一反射膜(16),以形成准直部(2);所述第二表面区域(12)形成为弧面,且其上附着有第二反射膜(17),以形成聚焦部(3);所述第三表面区域(13)形成为平面,其上附着有第三反射膜(18),并且所述第三反射膜(18)上设置有多条平行刻槽,以形成光栅(4);所述第四表面区域(14)形成为平面,且其上设置有入射狭缝(5);所述第五表面区域(15)上设置有探测器(6),其中,经所述入射狭缝(5)入射的光依次经过所述准直部(2)、所述光栅(4)和所述聚焦部(3)后到达所述探测器(6)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京云端光科技术有限公司,未经北京云端光科技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711216338.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top