[发明专利]一种基于原子力显微镜的二维纳米材料亲水角测试方法有效
| 申请号： | 201711202564.3 | 申请日： | 2017-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN107907450B | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 赵劲来;张晗;汤皎宁;邓远名;李中俊;汤贤;曹睿;马定涛;吴雷明 | 申请（专利权）人： | 深圳大学 |
| 主分类号： | G01N13/00 | 分类号： | G01N13/00 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人： | 彭西洋;苏芳 |
| 地址： | 518000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于原子力显微镜的二维纳米材料亲水角的测试方法，利用二维纳米材料本身所具有的吸水性能，通过原子力显微镜原位扫描的方法，在规定时间内扫描若干幅AFM图片，观察样品表面水滴的形貌，利用原子力显微镜的分析软件，得出若干幅AFM图片上水滴在二维纳米材料表面的亲水角。本发明方法可以在微纳尺寸对二维材料的亲水性能进行精确表征，并能原位观察到亲水角随时间的变化趋势；同时，较传统宏观测试样品亲水角的方法效率更高，传统测试样品亲水角时，每次只能测试一个位点的亲水角，而本发明方法可以在一个样品表面同时测试多个位点的亲水角，并且可进行更直观地对比。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 原子 显微镜 二维 纳米 材料 亲水角 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种基于原子力显微镜(AFM)的二维纳米材料亲水角测试方法，其特征在于：S1：将二维纳米材料进行样本制备；S2：将样本用PDMS转移到SiO2/Si基底的表面上；S3：将步骤S2中制备好的样品固定到AFM样品台上；S4：采用原位扫描的方法，在一定的时间内扫描若干幅AFM图片；S5：利用AFM的分析软件，得出若干幅AFM图片上水滴在样品表面的亲水角。
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