[发明专利]一种基于原子力显微镜的二维纳米材料亲水角测试方法

权利要求书

1.一种基于原子力显微镜(AFM)的二维纳米材料亲水角测试方法，其特征在于：

S1：将二维纳米材料进行样本制备；

S2：将样本用PDMS转移到SiO₂/Si基底的表面上；

S3：将步骤S2中制备好的样品固定到AFM样品台上；

S4：采用原位扫描的方法，在一定的时间内扫描若干幅AFM图片；

S5：利用AFM的分析软件，得出若干幅AFM图片上水滴在样品表面的亲水角；

其中，所述二维纳米材料为正交晶系的黑磷；

步骤S5中，水滴在样品表面的亲水角的计算步骤包括：

S51：将AFM图片进行NanoScope Analysis软件Flatten处理，用处理软件的Section功能任意画出AFM图片上水滴的中心切面图；

S52：将X、Y坐标调为1：1，根据亲水角的定义，画出断面图的切线，然后用量角器量取亲水角的度数；

S53：应用统计学的方法，取AFM图片上若干水滴进行分析，舍弃相差较大的数据，求其平均值，并计算其标准偏差。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于：步骤S1中，所述二维纳米材料的样本制备可以利用机械剥离法、或液相超声剥离法、或化学气相沉积法、或氧化还原法、或基片生长法、或有机合成法。

3.根据权利要求1或2所述的测试方法，其特征在于：所述二维纳米材料为石墨烯、或氮化硼、或二硫化钼、或二硫化钨、或硒化锑、或硒化铟。

4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于：所述正交晶系的黑磷是通过机械剥离法制得二维黑磷纳米片样本，即取适量黑磷置于胶带上，利用胶带的粘性反复粘合制成。

5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于：步骤S2中，所述SiO2的厚度优选为300nm。

6.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于：步骤S4中，所述一定的时间内扫描是以样品表面形貌发生明显变化的时间点进行扫描。

7.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于：步骤S4中，选取AFM的Tapping mode，RTESP的探针，扫描得出样品的Height Sensor图片。