[发明专利]检测大口径空间光学系统波前像差的方法及系统在审
| 申请号： | 201711172723.X | 申请日： | 2017-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN108106816A | 公开（公告）日： | 2018-06-01 |
| 发明（设计）人： | 程强;魏海松;薛栋林;胡海翔;张学军 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 赵勍毅 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明公开一种采用光管阵列拼接检测大口径空间光学系统波前像差的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1：搭建平行光管阵列，并调整平行光管阵列进行指向一致；步骤2：根据待检光学系统的通光口径、平行光管阵列的光管间距以及平行光管阵列中单光管口径，规划所述平行光管阵列的扫描路径；步骤3：将光管阵列置于四维位移平台上，并对准所述待检光学系统的入光口，按照所规划的扫描路径，进行待检光学系统子孔径波前斜率测量；步骤4：基于子孔径波前斜率及模式波前重构算法，进行运动误差解耦及波前拟合，实现待检光学系统波前误差重构。本发明在测量过程中无需使用大口径平行光管，降低了大口径空间光学系统外场波前检测的难度及成本。 | ||
| 搜索关键词： | 平行光管 光学系统 大口径 空间光学系统 光管 波前像差 波前斜率 扫描路径 子孔径 检测 波前误差 测量过程 通光口径 位移平台 运动误差 重构算法 模式波 入光口 外场 单光 解耦 拟合 四维 重构 拼接 对准 规划 口径 指向 测量 | ||
【主权项】：
1.一种采用光管阵列拼接检测大口径空间光学系统波前像差的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1：搭建平行光管阵列，并调整所述平行光管阵列进行指向一致；步骤2：根据待检光学系统的通光口径、所述平行光管阵列的光管间距以及所述平行光管阵列中单光管口径，规划所述平行光管阵列的扫描路径；步骤3：将光管阵列置于四维位移平台上，并对准所述待检光学系统的入光口，按照所规划的扫描路径，进行所述待检光学系统子孔径波前斜率测量；步骤4：基于所述子孔径波前斜率及模式波前重构算法，进行运动误差解耦及波前拟合，实现所述待检光学系统波前误差重构。
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