[发明专利]用于闪存装置的错误更正码单元、自我测试方法及控制器有效

专利信息
申请号: 201711172528.7 申请日: 2014-01-09
公开(公告)号: CN107845405B 公开(公告)日: 2021-01-26
发明(设计)人: 翁晟佑 申请(专利权)人: 慧荣科技股份有限公司
主分类号: G11C29/52 分类号: G11C29/52;G11C29/56
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 江耀纯
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开了一种应用于一闪存装置的错误更正码单元、一种应用于一闪存装置的自我测试方法以及一种记忆装置的控制器。所述自我测试方法包括:产生一输入数据;对所述输入数据进行编码以产生相对应的一错误更正码;使用所述输入数据与所述错误更正码来模拟产生读取所述闪存装置中一闪存的一数据页所得到的一软信息;以及对所述软信息进行译码以得到一译码结果。通过本发明,由于可以利用数据量很少的种子数据来仿真产生读取所述闪存装置中一闪存的一数据页所得到的一软信息,因此,自我测试电路具有很小的芯片面积,且可以产生类似实际自闪存中所读取的数据,供闪存装置在出厂前进行测试以判断其读取与译码质量,有成本低以及高效率的优点。
搜索关键词: 用于 闪存 装置 错误 更正 单元 自我 测试 方法 控制器
【主权项】:
一种应用于一闪存装置的错误更正码单元,其特征在于包括:一自我测试电路,用来模拟产生读取所述闪存装置中一闪存的一数据页所得到的一软信息,其中所述自我测试电路包括:一随机数据产生器,用来使用同一个种子数据来分别产生多笔随机数据;以及一噪声产生器,耦接于所述随机数据产生器,用来将所述多笔随机数据与对应所述多笔随机数据的一错误更正码加上噪声成分,以模拟产生读取所述闪存中所述数据页所得到的所述软信息;以及一译码器,耦接于所述自我测试电路,用来直接自该自我测试电路接收所述软信息,并对所述软信息进行译码以得到一译码结果。
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