[发明专利]三维测量系统及使用方法有效
| 申请号： | 201711165594.1 | 申请日： | 2017-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN108007365B | 公开（公告）日： | 2020-02-11 |
| 发明（设计）人： | 叶恒青;王瑾;曹锋;覃海云;梁诚伟;高云峰 | 申请（专利权）人： | 大族激光科技产业集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/03 | 分类号： | G01B11/03 |
| 代理公司： | 44224 广州华进联合专利商标代理有限公司 | 代理人： | 石佩 |
| 地址： | 518051 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种三维测量系统，用于对样品进行3D测量，包括安装架、X‑Y振镜系统、激光测距仪、工业相机及反射光路系统，所述X‑Y振镜系统、所述激光测距仪、工业相机和所述反射光路系统设于所述安装架，所述X‑Y振镜系统和所述反射光路系统相邻设置，所述激光测距仪发射出的激光经由所述反射光路系统进入X‑Y振镜系统，所述X‑Y振镜系统用于调整所述激光的光路，使得所述激光依次扫描样品表面的不同位置，以测得样品表面不同位置的高度，实现3D测量；所述工业相机和所述X‑Y振镜系统相配合，获取若干样品局部照片，而后拼接得到一张完整的样品照片，实现大幅面2D测量。本发明三维测量系统能够对样品进行3D测量和大幅面2D测量，经济实用性强。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 测量 系统 使用方法 | ||
【主权项】：
1.一种三维测量系统的使用方法，其特征在于，包括以下步骤：/n将样品放置于测量区域内，预设M×N个X-Y振镜系统的拍照位置坐标，X-Y振镜系统摆动至预设拍照位置坐标，触发相机拍照，获得对应所述预设拍照位置坐标的样品局部照片；/n重复上述过程，获得对应每一预设拍照位置坐标的若干样品局部照片，其中，对应每二相邻预设拍照位置坐标的样品局部照片部分重合；/n将所述若干样品局部照片进行畸变校正处理后，标定并拼接成为一张完整的样品照片；/n其中，所述标定并拼接成为一张完整的样品照片通过以下步骤完成：/n将标定板放置于测量区域内，预设M×N个X-Y振镜系统的拍照位置坐标，X-Y振镜系统摆动至预设拍照位置坐标后，触发相机拍照，获得对应所述预设拍照位置坐标的标定板局部图片；/n重复上述过程，获得对应每一预设拍照位置坐标的若干标定板局部图片，其中，对应每二相邻预设拍照位置坐标的标定板局部图片部分重叠；/n对所述若干标定板局部图片进行畸变校正处理，拼接出一张完整的标定板图片，并建立所述若干标定板局部图片与所述标定板图片的映射关系；/n根据所述若干标定板局部图片与所述标定板图片的映射关系，将所述若干样品局部照片标定，而后组合成为一张完整的样品照片。/n
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