[发明专利]光热反射测温方法及系统有效
| 申请号： | 201711137052.3 | 申请日： | 2017-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN107976263B | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 刘岩;梁法国;吴爱华;郑世棋 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 主分类号： | G01K11/00 | 分类号： | G01K11/00 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 付晓娣 |
| 地址： | 050000 *** | 国省代码： | 河北;13 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本发明公开了一种光热反射测试方法及系统，属于温度测试技术领域，包括步骤：对待测区域进行光热反射系数CTR校准；对不同波长光源的出射光进行调制，并将经过调制的出射光投射到待测区域；探测器接收待测区域的反射光，并将反射光解调，得到不同波长反射光的信号；对不同波长的反射光的信号进行计算，得到温度测试信息。本发明利用多个波长出射光同时对包括多种不同材料的待测区域进行温度测量，根据不同材料的特性选取C |
||
| 搜索关键词： | 光热 反射 测温 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种光热反射测温方法，其特征在于，包括步骤：对待测区域进行光热反射系数CTR校准；对不同波长光源的出射光进行调制，并将经过调制的出射光投射到待测区域；接收待测区域的反射光，并将反射光解调，得到不同波长反射光的信号；对不同波长的反射光的信号进行计算，得到温度测试信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第十三研究所，未经中国电子科技集团公司第十三研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711137052.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
