[发明专利]无源UHFRFID标签反射散射强度测试方法在审
申请号: | 201711099862.4 | 申请日: | 2017-11-09 |
公开(公告)号: | CN107907748A | 公开(公告)日: | 2018-04-13 |
发明(设计)人: | 冀京秋;余舒浩;邱落 | 申请(专利权)人: | 中京复电(上海)电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 上海诺衣知识产权代理事务所(普通合伙)31298 | 代理人: | 韩国辉 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种无源UHF RFID标签反射散射强度测试方法,包括,根据测试项目定义复数个测试用例,并选取一测试用例,根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数,根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数,使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式,使所述RFID标签读写器以无线形式向一置于电波暗室内的待测试标签发送指令,使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号,分析采集到的所述射频信号,并记录所述待测试标签返回信号的反射强度,根据所述待测试标签返回信号的反射强度,计算所述待测试标签端的反向散射强度,选取下一测试用例,并重复上述步骤,直至所有所述测试用例测试完毕。本发明获得了以下有益效果可对无源UHF RFID标签的反射散射强度进行测试。 | ||
搜索关键词: | 无源 uhfrfid 标签 反射 散射 强度 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种无源UHF RFID标签反射散射强度测试方法,其特征在于,提供一RFID标签读写器及一射频信号分析装置,包括以下步骤:步骤1,根据测试项目定义复数个测试用例,并选取一测试用例;步骤2,根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数;步骤3,根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数,使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式;步骤4,使所述RFID标签读写器以无线形式向一置于电波暗室内的待测试标签发送指令;步骤5,使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号;步骤6,分析采集到的所述射频信号,并记录所述待测试标签返回信号的反射强度;步骤7,根据所述待测试标签返回信号的反射强度,计算所述待测试标签端的反向散射强度;步骤8,选取下一测试用例,并重复所述步骤2至所述步骤7,直至所有所述测试用例测试完毕。
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