[发明专利]无源UHFRFID标签写入时间的测试方法

摘要

本发明公开了一种无源UHF RFID标签写入时间的测试方法，包括使RFID标签读写器向一待测试标签发送指令，使待测试标签处于开放状态；使射频信号分析装置采集RFID标签读写器与待测试标签通信过程中的射频信号；使RFID标签读写器发送第一次写入命令至待测试标签的第一块存储区，并记录第一次写入命令的完成时间；使RFID标签读写器发送第一次读取命令至待测试标签的第一块存储区，已验证第一次写入命令是否成功；使RFID标签读写器发送第二次写入命令至待测试标签的最后一块存储区，并记录第二次写入命令的完成时间；使RFID标签读写器发送第二次读取命令至待测试标签的最后一块存储区，已验证第二次写入命令是否成功。本发明获得了以下有益效果可对无源UHF RFID标签的写入时间进行测试。

主权项

一种无源UHF RFID标签写入时间的测试方法，其特征在于，提供一RFID标签读写器及一射频信号分析装置，包括以下步骤：步骤1，根据测试项目定义复数个测试用例，并选取一测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤4，使所述RFID标签读写器以无线形式向一置于电波暗室内的待测试标签发送指令，使所述待测试标签处于开放状态；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号；步骤6，使所述RFID标签读写器发送第一次写入命令至所述待测试标签的第一块存储区，并记录所述第一次写入命令的完成时间；步骤7，使所述RFID标签读写器发送第一次读取命令至所述待测试标签的第一块存储区，已验证所述第一次写入命令是否成功；步骤8，使所述RFID标签读写器发送第二次写入命令至所述待测试标签的最后一块存储区，并记录所述第二次写入命令的完成时间；步骤9，使所述RFID标签读写器发送第二次读取命令至所述待测试标签的最后一块存储区，已验证所述第二次写入命令是否成功；步骤10，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤9，直至所有所述测试用例测试完毕。