[发明专利]无源UHFRFID标签写入时间的测试方法

权利要求书

1.一种无源UHF RFID标签写入时间的测试方法，其特征在于，提供一RFID标签读写器及一射频信号分析装置，包括以下步骤：

步骤1，根据测试项目定义复数个测试用例，并选取一测试用例；

步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；

步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；

步骤4，使所述RFID标签读写器以无线形式向一置于电波暗室内的待测试标签发送指令，使所述待测试标签处于开放状态；

步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号；

步骤6，使所述RFID标签读写器发送第一次写入命令至所述待测试标签的第一块存储区，并记录所述第一次写入命令的完成时间；

步骤7，使所述RFID标签读写器发送第一次读取命令至所述待测试标签的第一块存储区，已验证所述第一次写入命令是否成功；

步骤8，使所述RFID标签读写器发送第二次写入命令至所述待测试标签的最后一块存储区，并记录所述第二次写入命令的完成时间；

步骤9，使所述RFID标签读写器发送第二次读取命令至所述待测试标签的最后一块存储区，已验证所述第二次写入命令是否成功；

步骤10，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤9，直至所有所述测试用例测试完毕。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，还包括天线及环形器，所述射频信号分析装置的输入接口连接所述环形器的第一端口，所述RFID标签读写器的射频接口连接所述环形器的第二端口，所述环形器的第三端口连接所述天线，所述天线设置于所述电波暗室内，所述待测试标签置于所述电波暗室内，并与所述天线具有预定距离。

3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述射频信号分析装置为矢量信号分析仪。

4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述RFID标签读写器的工作频率为840MHz～845MHz和/或920MHz～925MHz。

5.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述电波暗室内径2.5米。

6.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述预定距离为1米。

7.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤2中，所述RFID标签读写器发射功率设置为所述待测试标签的些灵敏度+2dBm。

8.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤4中，所述指令为满足T2要求的启动查询命令及编码获取命令的组合。

9.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤6中，记录所述第一次写入命令的完成时间的方法为，测量所述第一次写入命令结束到所述待测试标签响应起始的时间间隔，并保存；以及所述步骤8中，记录所述第二次写入命令的完成时间的方法为，测量所述第二次写入命令结束到所述待测试标签响应起始的时间间隔，并保存。

10.如权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述天线增益为8.5dBi。