[发明专利]一种无源UHFRFID芯片协议性能的测试方法在审
| 申请号： | 201711099836.1 | 申请日： | 2017-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN107977588A | 公开（公告）日： | 2018-05-01 |
| 发明（设计）人： | 冀京秋;陈伯俊;邱落 | 申请（专利权）人： | 中京复电(上海)电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06K7/00 | 分类号： | G06K7/00 |
| 代理公司： | 上海诺衣知识产权代理事务所(普通合伙)31298 | 代理人： | 韩国辉 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种无源UHF RFID芯片协议性能的测试方法，包括使所述RFID标签读写器向一待测试芯片发送指令；使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试芯片通信过程中的射频信号；分析采集到的所述射频信号，并调整所述RFID标签读写器的发射功率至所述待测试芯片可正确应答的临界值；记录所述临界值；选取下一测试用例，并重复上述步骤，直至所有所述测试用例测试完毕。本发明获得了以下有益效果可对无源UHF RFID芯片的协议性能进行一系列有效的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 无源 uhfrfid 芯片 协议 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种无源UHF RFID芯片协议性能的测试方法，其特征在于，提供一RFID标签读写器以及一射频信号分析装置，根据测试项目定义复数个测试用例，还包括以下步骤：步骤1，选取一所述测试用例；步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；步骤4，使所述RFID标签读写器向一待测试芯片发送指令；步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试芯片通信过程中的射频信号；步骤6，分析采集到的所述射频信号，并调整所述RFID标签读写器的发射功率至所述待测试芯片可正确应答的临界值；步骤7，记录所述临界值；步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤7，直至所有所述测试用例测试完毕。
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