[发明专利]一种热膨胀系数高通量检测装置及其控制方法在审
| 申请号： | 201711091586.7 | 申请日： | 2017-11-08 |
| 公开（公告）号： | CN107621475A | 公开（公告）日： | 2018-01-23 |
| 发明（设计）人： | 向勇;税烺;张晓晴 | 申请（专利权）人： | 北京亦庄材料基因研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/16 | 分类号： | G01N25/16 |
| 代理公司： | 北京创遇知识产权代理有限公司11577 | 代理人： | 李芙蓉,冯建基 |
| 地址： | 100176 北京市大兴*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种热膨胀系数高通量检测装置及其控制方法，所述装置包括激光发射器、半反射透镜、加热台以及电荷耦合器件摄像机，其中所述加热台上放置待测样品，所述加热台产生热量，以加热所述待测样品，并使得所述待测样品发生膨胀；所述激光发射器发射出的光线抵达所述半反射透镜后，分别产生反射光和透射光；所述反射光反射至所述电荷耦合器件摄像机中，所述透射光在所述待测样品表面发生反射后也反射至所述电荷耦合器件摄像机中。本发明提供的技术方案，能够提高热膨胀系数的检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 热膨胀 系数 通量 检测 装置 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
一种热膨胀系数高通量检测装置，其特征在于，所述检测装置包括激光发射器、半反射透镜、加热台以及电荷耦合器件摄像机，其中：所述加热台上放置待测样品，所述加热台产生热量，以加热所述待测样品，并使得所述待测样品发生膨胀；所述激光发射器发射出的光线抵达所述半反射透镜后，分别产生反射光和透射光；所述反射光反射至所述电荷耦合器件摄像机中，所述透射光在所述待测样品表面发生反射后也反射至所述电荷耦合器件摄像机中。
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