[发明专利]一种激光分系统综合测试设备有效

专利信息
申请号: 201711086757.7 申请日: 2017-11-07
公开(公告)号: CN108051182B 公开(公告)日: 2020-02-21
发明(设计)人: 吴李宗;张德祥;王锦华;陈轩 申请(专利权)人: 扬州科莱光电技术有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 代理人: 黄冠华
地址: 225000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种激光分系统综合测试设备,包括控制柜、操作显示平台、功率测量装置和光学平台,所述控制柜、操作显示平台、功率测量装置均设置在光学平台上表面,所述功率测量装置和操作显示平台平行设置在控制柜的一侧,所述控制柜内部依次设置有大口径离轴抛物面反射式平行光管、模拟测程装置和光轴精度测量装置,所述大口径平行光管的光束出射平行性≤5″,有效光学口径为Φ300mm。本发明提供的激光分系统综合测试设备可以模拟测程和测量光轴精度,解决了目前激光测试设备功能单一检测精度低的问题,大大提高了激光分系统的测试调控效率。
搜索关键词: 一种 激光 分系统 综合测试 设备
【主权项】:
1.一种激光分系统综合测试设备,其特征在于:包括控制柜、操作显示平台、功率测量装置和光学平台,所述控制柜、操作显示平台、功率测量装置均设置在光学平台上表面,所述功率测量装置和操作显示平台平行设置在控制柜的一侧,所述控制柜内部依次设置有大口径离轴抛物面反射式平行光管、模拟测程装置和光轴精度测量装置,所述大口径平行光管的光束出射平行性≤5″,有效光学口径为Φ300mm。
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