[发明专利]一种基于干法刻蚀的悬挂式微器件结构转移方法有效
申请号: | 201711031066.7 | 申请日: | 2017-10-29 |
公开(公告)号: | CN107946414B | 公开(公告)日: | 2019-06-11 |
发明(设计)人: | 潘章旭;龚政;陈志涛;刘久澄;刘晓燕;任远;曾昭烩;李叶林 | 申请(专利权)人: | 广东省半导体产业技术研究院 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L21/78;B81C1/00 |
代理公司: | 广东世纪专利事务所有限公司 44216 | 代理人: | 刘卉 |
地址: | 510651 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种基于干法刻蚀的悬挂式微器件结构转移方法,首先在衬底上生长微器件所需的外延层以及沉积刻蚀掩膜层;接着通过光刻与随后的各向异性干法刻蚀形成分立的微器件阵列;然后通过各向同性干法刻蚀将露出的衬底表面继续深刻蚀,使微器件形成为悬挂式结构;最后通过粘性物质完成微器件的结构转移。本发明避免了激光剥离带来的样品烧毁现象,工艺稳定,而且省去了生长腐蚀停层或牺牲层和钝化保护器件的工艺,也省去了金属键合焊接工艺,因而工艺简便,节省了制备成本和提高了制备效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 刻蚀 悬挂 式微 器件 结构 转移 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于干法刻蚀的悬挂式微器件结构转移方法,其特征在于包括以下步骤:1)在衬底上外延生长微器件所需的外延层以及沉积刻蚀掩膜层;2)通过光刻与随后的各向异性干法刻蚀,去除部分区域的刻蚀掩膜层、外延层和部分衬底,露出部分区域的衬底表面,完成微器件阵列的分立;3)将单个微器件的横向尺寸设为A,利用各向同性干法刻蚀将露出的衬底表面继续深刻蚀,由于各向同性刻蚀会在微器件下出现横向刻蚀现象,因此当衬底垂直刻蚀至深度为A/3~2A时,衬底在微器件的底面形成有沙漏状结构,通过沙漏状结构而使微器件在衬底上形成为悬挂式微器件;4)去除悬挂式微器件上的刻蚀掩膜层;5)通过旋涂在临时衬底上的粘性物质对去除了刻蚀掩膜层的悬挂式微器件进行粘附拾取,使微器件转移至临时衬底上;6)利用衬底腐蚀液,将微器件转移后残留的衬底凸起去除;7)将去除了衬底凸起的微器件通过粘附物质粘附到转移衬底上;8)采用高温氧化方法或有机溶剂溶解法,将临时衬底上的粘性物质热分解或溶解,去除临时衬底,完成将微器件转移到所需衬底的流程。
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