[发明专利]一种用于栅控器件的集电极电流软测量方法有效

专利信息
申请号: 201710879802.8 申请日: 2017-09-26
公开(公告)号: CN107622167B 公开(公告)日: 2020-04-17
发明(设计)人: 李泽宏;曾潇;吴玉舟;万佳利 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 葛启函
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种用于栅控器件的集电极电流软测量方法,属于电力电子技术领域。首先建立栅控器件的稳态电流解析模型和瞬态电流解析模型,并根据以上两者建立栅控器件的全局电流解析模型,筛选栅控器件的关键参数;然后在栅控器件的应用电路中采集多组测试数据,每组测试数据包括解析软测量建模筛选出的栅控器件的关键参数和对应的栅控器件的集电极电流;再利用采集的多组测试数据建立统计数据模型,即利用机器学习算法建立关键参数与对应的栅控器件的集电极电流之间的关系;在实际测量时通过实时采集关键参数,并将采集的关键参数带入经验数据软测量建模建立的统计数据模型进行计算,即可得到间接测量的栅控器件的集电极电流。本发明具有高速低成本的优点。
搜索关键词: 一种 用于 器件 集电极 电流 测量方法
【主权项】:
一种用于栅控器件的集电极电流软测量方法,其特征在于,包括解析软测量建模、经验数据软测量建模和测量阶段,所述解析软测量建模包括如下步骤:1.1建立所述栅控器件的稳态电流解析模型;1.2建立所述栅控器件的瞬态电流解析模型;1.3根据所述栅控器件的稳态电流解析模型和瞬态电流解析模型建立所述栅控器件的全局电流解析模型,筛选所述栅控器件的关键参数;所述经验数据软测量建模包括如下步骤:2.1建立所述栅控器件的应用电路,并在所述应用电路上设置步骤1.3筛选出的所述关键参数的测量接口;2.2在步骤2.1建立的应用电路中采集多组测试数据,所述测试数据包括所述解析软测量建模筛选出的所述栅控器件的关键参数和对应的栅控器件的集电极电流;2.3根据步骤2.2采集的多组测试数据建立统计数据模型,即利用机器学习算法建立所述关键参数与对应的栅控器件的集电极电流之间的关系;所述测量阶段为:在栅控器件应用电路中,实时采集所述关键参数,并将采集的关键参数带入经验数据软测量建模建立的统计数据模型进行计算,得到所述栅控器件的集电极电流。
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