[发明专利]存储器模块、存储器控制器和系统及其相应操作方法有效
| 申请号： | 201710858013.6 | 申请日： | 2017-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN107943609B | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 林璇渶;赵永进;崔璋石 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F11/10 | 分类号： | G06F11/10 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 吴晓兵 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了一种用于报告关于芯片单元故障的信息的存储器模块、存储器模块的操作以及存储器控制器的操作。所述存储器模块包括：安装在模块板上并存储数据的第一至第M存储器芯片(其中M是等于或大于2的整数)；以及安装在模块板上并存储奇偶校验码的第(M+1)存储器芯片，所述奇偶校验码用于恢复在第一至第M存储器芯片中发生芯片单元故障的存储器芯片的数据，其中通过芯片内错误检测操作来从第一至第(M+1)存储器芯片产生故障位，并且根据对来自第一至第(M+1)存储器芯片的故障位进行计算的结果来输出故障信息。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 模块 控制器 系统 及其 相应 操作方法 | ||
【主权项】：
一种存储器模块，包括：安装在模块板上并存储数据的第一至第M存储器芯片，其中M是等于或大于2的整数；以及安装在所述模块板上并存储奇偶校验码的第“M+1”存储器芯片，所述奇偶校验码与具有由所述第一至第M存储器芯片中的相应存储器芯片存储的数据部分的多芯片数据相关联，并且所述奇偶校验码包含用于校正由于对所述第一至第M存储器芯片中的故障存储器芯片所存储的数据部分的读取操作而导致的至少一个位错误的信息，其中第一至第“M+1”存储器芯片中的每一个包括片上纠错电路，所述片上纠错电路用于检测所述多芯片数据的相应存储数据部分内的位错误，并提供用于指示位错误的检测结果的相应故障位，以及其中所述存储器模块包括以下电路，所述电路被连接为从所述第一至第“M+1”存储器芯片接收故障位，并且作为对所述故障位执行的计算的结果而输出故障信息。
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