[发明专利]用于运动轨迹跟踪的方法、装置和设备在审
申请号: | 201710844684.7 | 申请日: | 2017-09-19 |
公开(公告)号: | CN109521802A | 公开(公告)日: | 2019-03-26 |
发明(设计)人: | 宋恩亮;魏江洲 | 申请(专利权)人: | 博世(上海)智能科技有限公司 |
主分类号: | G05D3/12 | 分类号: | G05D3/12 |
代理公司: | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人: | 钟胜光 |
地址: | 200335 上海市长*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及用于运动轨迹跟踪的设备、方法和装置,所述设备包括两个光学导航芯片、一个惯性测量单元和控制器,其中该控制器利用该两个光学导航芯片和该惯性测量单元的测量数据来确定对象的姿态角度数据和实际位置数据。该设备、方法和装置能够以低成本、低功耗和低运算需求的方式来提供运动轨迹跟踪。 | ||
搜索关键词: | 运动轨迹跟踪 惯性测量单元 光学导航芯片 方法和装置 控制器 测量数据 角度数据 实际位置 运算需求 低成本 低功耗 | ||
【主权项】:
1.一种用于运动轨迹跟踪的设备,包括:惯性测量单元,用于测量在多个轨迹采样时间点的任一轨迹采样时间点处对象围绕第一轴的第一旋转角度、绕着第二轴的第二旋转角度和绕着第三轴的第三旋转角度,其中,所述第一轴、所述第二轴和所述第三轴相互垂直;第一光学导航芯片,用于测量在所述任一轨迹采样时间点处所述对象在所述第一轴上所处的第一位置和在所述第三轴上所处的第二位置;第二光学导航芯片,用于测量在所述任一轨迹采样时间点处所述对象在所述第二轴所处上的第三位置和在所述第三轴所处上的第四位置;以及控制器,其与所述惯性测量单元、所述第一光学导航芯片和所述第二光学导航芯片连接,并且用于:至少基于所述第一旋转角度、所述第二旋转角度、所述第三旋转角度、所述第一位置、所述第二位置、所述第三位置和所述第四位置,估算在所述任一轨迹采样时间点处所述对象在所述第一轴上所处的第一观测位置、在所述第二轴上所处的第二观测位置和在所述第三轴上所处的第三观测位置;至少基于所述第一观测位置、所述第二观测位置和所述第三观测位置,计算在所述任一轨迹采样时间点处所述对象在所述第一轴上所处的第一实际位置、在所述第二轴上所处的第二实际位置和在所述第三轴上所处的第三实际位置;以及,输出在所述任一轨迹采样时间点处所述对象的姿态角度数据和实际位置数据,其中,所述姿态角度数据包括所述第一旋转角度、所述第二旋转角度和所述第三旋转角度,以及,所述实际位置数据包括所述第一实际位置、所述第二实际位置和所述第三实际位置。
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