[发明专利]一种无损检测种蛋中后期死胚蛋的方法在审

专利信息
申请号: 201710843020.9 申请日: 2017-09-18
公开(公告)号: CN107643255A 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: 张伟;屠康;潘磊庆;张李阳;汪振炯;王海鸥;王蓉蓉 申请(专利权)人: 南京晓庄学院
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27
代理公司: 南京业腾知识产权代理事务所(特殊普通合伙)32321 代理人: 郑婷
地址: 211171 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种无损检测种蛋中后期死胚蛋的方法,高光谱图像采集,图像校正;种蛋发育中期,在种蛋大头区域选择感兴趣ROI区域;种蛋发育后期在小头选取ROI区域;并用连续投影算法进行光谱波长优化,选取400‑1000nm波段的种蛋样本光谱数据;分别将特征波段和全波段作为模型输入变量,胚胎死亡时间作为模型输出变量,建立中期死胚时间预测支持向量机回归模型进行对比;利用灰度共生矩阵提取种蛋图像的特征参数;将孵化光谱曲线特征和孵化图像发育特征,作为SVC模型的输入变量,进行判断。本发明的有益效果是检测结果准确且不会造成种蛋损伤。
搜索关键词: 一种 无损 检测 种蛋 后期 死胚蛋 方法
【主权项】:
一种无损检测种蛋中后期死胚蛋的方法,其特征在于按照以下步骤进行:步骤1:高光谱图像采集;高光谱图像采集前需要对采集曝光时间、镜头到种蛋表面的距离、光源强度、图像分辨率和传送装置的速度进行设置;步骤2:图像校正;试验前根据样品特征,选择合适厚度的标准白色校正板,放置在光源正上方,扫描透射白板得到全白的标定图像;然后盖上镜头盖,采集全黑的标定图像;最后根据式计算出校正后的相对图像;式中,Iλ为原始高光谱透射图像;Bλ为全黑的标定图像;Wλ为全白的标定图像;Rλ为标定后高光谱透射图像;步骤3:中、后期孵化光谱曲线特征提取;种蛋发育中期,在种蛋大头区域选择感兴趣ROI区域;种蛋发育后期在小头选取ROI区域;并用连续投影算法进行光谱波长优化,选取400‑1000nm波段的种蛋样本光谱数据;分别将特征波段和全波段作为模型输入变量,胚胎死亡时间作为模型输出变量,建立中期死胚时间预测支持向量机回归模型进行对比;步骤4:中、后期孵化图像发育特征提取;利用灰度共生矩阵提取种蛋图像的能量、对比度、相关性、逆差距和熵5个特征参数;步骤5:将孵化光谱曲线特征和孵化图像发育特征,作为SVC模型的输入变量,进行判断,模型参数优选:g=10‑2,nu=10‑0.78。
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