[发明专利]一种无损检测种蛋中后期死胚蛋的方法

权利要求书

1.一种无损检测种蛋中后期死胚蛋的方法，其特征在于按照以下步骤进行：

步骤1：高光谱图像采集；

高光谱图像采集前需要对采集曝光时间、镜头到种蛋表面的距离、光源强度、图像分辨率和传送装置的速度进行设置；

步骤2：图像校正；

试验前根据样品特征，选择合适厚度的标准白色校正板，放置在光源正上方，扫描透射白板得到全白的标定图像；然后盖上镜头盖，采集全黑的标定图像；最后根据式计算出校正后的相对图像；

式中，I_λ为原始高光谱透射图像；B_λ为全黑的标定图像；W_λ为全白的标定图像；R_λ为标定后高光谱透射图像；

步骤3：中、后期孵化光谱曲线特征提取；

种蛋发育中期，在种蛋大头区域选择感兴趣ROI区域；种蛋发育后期在小头选取ROI区域；并用连续投影算法进行光谱波长优化，选取400-1000nm波段的种蛋样本光谱数据；分别将特征波段和全波段作为模型输入变量，胚胎死亡时间作为模型输出变量，建立中期死胚时间预测支持向量机回归模型进行对比；

步骤4：中、后期孵化图像发育特征提取；

利用灰度共生矩阵提取种蛋图像的能量、对比度、相关性、逆差距和熵5个特征参数；

步骤5：将孵化光谱曲线特征和孵化图像发育特征，作为SVC模型的输入变量，进行判断，模型参数优选：g＝10^-2，nu＝10^-0.78。

2.按照权利要求1所述一种无损检测种蛋中后期死胚蛋的方法，其特征在于：所述步骤1中，采集曝光时间为55ms，镜头到种蛋表面的距离(即物距)为320mm，传送装置的速度2.5mm/s，图像分辨率440×804，载物台背景为黑色材料。

3.按照权利要求1所述一种无损检测种蛋中后期死胚蛋的方法，其特征在于：所述步骤3中种蛋发育中期时间为5-11d；种蛋发育后期时间为12-18d。

4.按照权利要求1所述一种无损检测种蛋中后期死胚蛋的方法，其特征在于：所述步骤3中筛选出白壳种蛋孵化后期死胚蛋检测的特征波长为：620、643、674、682、702、706、715、737、782和799nm；褐壳种蛋为：643、670、686、712、717、737、743、753、790、801和812nm。

5.按照权利要求1所述一种无损检测种蛋中后期死胚蛋的方法，其特征在于：所述步骤3中中期死胚时间预测支持向量机回归模型参数c＝10²，g＝10^-1，交叉决定系数R²_cv为0.93，交叉均方根误差RMSECV为0.60％。

6.按照权利要求1所述一种无损检测种蛋中后期死胚蛋的方法，其特征在于：所述步骤4中在种蛋图像提取在0°、45°、90°、135°四个方向上。