[发明专利]一种基于二元贴片天线阵列的应变与裂纹解耦测量装置及方法有效
| 申请号： | 201710832322.6 | 申请日： | 2017-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN107747900B | 公开（公告）日： | 2020-02-18 |
| 发明（设计）人： | 刘志平;柯亮 | 申请（专利权）人： | 武汉理工大学 |
| 主分类号： | G01B7/00 | 分类号： | G01B7/00;G01B7/16;G01B7/02 |
| 代理公司： | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人： | 许美红 |
| 地址： | 430070 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于二元贴片天线阵列的应变与裂纹解耦测量装置及方法，该方法包括以下步骤：S1、将补偿天线和测量天线分别粘贴在待测结构表面上；S2、无线问询装置实时向补偿天线和测量天线发射扫频电磁波，根据反射回来的信号分别获取其谐振频率；S3、当待测结构表面发生裂纹时，补偿天线的接地板隔离了待测结构表面裂纹对其谐振频率的影响，仅感知应变，测量天线感知应变和裂纹综合信息；根据补偿天线和测量天线的实时谐振频率，结合其长度和初始谐振频率，实现应变和裂纹信息的解耦。本发明实现了利用贴片天线对金属结构表面应变与裂纹信息的解耦与精确测量，且具有装置结构简单、无需导线连接等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 二元 天线 阵列 应变 裂纹 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种基于二元贴片天线阵列的应变与裂纹解耦测量装置，其特征在于，该装置包括补偿天线(1)、测量天线(2)和无线问询装置(3)，补偿天线(1)和测量天线(2)是两个结构和尺寸均不相同的矩形贴片天线，补偿天线(1)和测量天线(2)分别粘贴在待测结构表面上；补偿天线(1)和测量天线(2)均为谐振腔结构，无线问询装置(3)分别向补偿天线(1)和测量天线(2)发射扫频电磁波，根据反射回来的信号分别获得其谐振频率，进而根据谐振频率解耦测量得到粘贴测量天线(2)处的应变大小和贴片下方的裂纹特征。
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