[发明专利]基于法向分量的伪三维漏磁信号缺陷轮廓识别方法

摘要

本发明公开了一种基于法向分量的伪三维漏磁信号缺陷轮廓识别方法，包括：从待测试件中选取识别区域；对检测数据进行过滤处理，得到漏磁信号法向分量；通过水平差分信号与第一预设倍数相乘得到伪漏磁信号水平分量；通过垂直差分信号与第二预设倍数相乘得到伪漏磁信号垂直分量；将漏磁信号法向分量、伪漏磁信号水平分量和伪漏磁信号垂直分量进行伪三维漏磁信号合成操作，得到合成漏磁信号；选取预设阈值，得到缺陷识别轮廓。该方法可以从漏磁信号的法向分量中衍生出漏磁信号水平分量和漏磁信号垂直分量的近似值，进而构建伪三维漏磁信号实现缺陷轮廓识别，相较于传统的一维漏磁信号缺陷轮廓识别，具有更高的求解精度和更好的识别效果。

主权项

1.一种基于法向分量的伪三维漏磁信号缺陷轮廓识别方法，其特征在于，包括以下步骤：/n获取待测试件，并从所述待测试件中选取识别区域，其中，所述识别区域内包含单个缺陷；/n通过单轴磁传感器在扫描平面上扫描所述识别区域，得到所述识别区域内缺陷漏磁信号法向分量的检测数据，并对所述检测数据进行过滤处理，得到漏磁信号法向分量；/n将所述漏磁信号法向分量沿水平方向进行差分变换操作，得到所述漏磁信号法向分量的水平差分信号，并通过所述水平差分信号与第一预设倍数相乘得到伪漏磁信号水平分量，其中，所述将所述漏磁信号法向分量沿水平方向进行差分变换操作，进一步包括：获取满足第一预设条件的第一信号矩阵进行卷积运算，所述水平差分信号满足以下公式，所述公式为：Dx＝Gx*Bz，其中，Dx为所述水平差分信号，Gx为算子模板，Bz为所述信号矩阵，*表示卷积运算；/n将所述漏磁信号法向分量沿垂直方向进行差分变换操作，得到所述漏磁信号法向分量的垂直差分信号，并通过所述垂直差分信号与第二预设倍数相乘得到伪漏磁信号垂直分量，其中，所述将所述漏磁信号法向分量沿垂直方向进行差分变换操作，进一步包括：获取第二预设条件的第二信号矩阵进行卷积运算，所述垂直差分信号满足以下公式，所述公式为：Dy＝Gy*Bz，其中，Dy为所述垂直差分信号,Gy为算子模板；所述算子模板为Prewitt算子模板或Sobel算子模板；/n将所述漏磁信号法向分量、所述伪漏磁信号水平分量和所述伪漏磁信号垂直分量进行伪三维漏磁信号合成操作，得到合成漏磁信号；以及/n选取预设阈值，以对所述合成漏磁信号进行二值化处理，并对二值化处理后得到的二值图像进行缺陷边缘连续性识别操作，得到缺陷识别轮廓。/n