[发明专利]占空比校正器件及包括其的半导体器件有效
| 申请号： | 201710778063.3 | 申请日： | 2017-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN107799139B | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 崔谨镐;金东均;李东郁;朴珉秀 | 申请（专利权）人： | 爱思开海力士有限公司 |
| 主分类号： | G11C7/22 | 分类号： | G11C7/22;H03K5/156 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 毋二省;许伟群 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 可以提供一种占空比校正器件。占空比校正器件可以包括占空比控制器，其被配置为通过控制占空比校正信号的占空比来输出控制信号，并且检测反馈信号的电平以基于在反馈信号的电平与一逻辑电平相对应的时段施加的码信号来转换占空比。占空比校正器件可以包括功率门控电路，其被配置为通过驱动控制信号来产生反馈信号。 | ||
| 搜索关键词： | 校正 器件 包括 半导体器件 | ||
【主权项】：
一种占空比校正器件，包括：占空比控制器，其被配置为：通过控制占空比校正信号的占空比来输出控制信号，并且检测反馈信号的电平以基于码信号来转换占空比，所述码信号是在所述反馈信号的电平与一逻辑电平相对应的时段施加的；以及功率门控电路，其被配置为通过驱动控制信号来产生反馈信号。
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