[发明专利]一种一维纳米材料的观测装置有效
| 申请号： | 201710775064.2 | 申请日： | 2017-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN109425592B | 公开（公告）日： | 2021-06-01 |
| 发明（设计）人： | 武文赟;李东琦;张金;姜开利;范守善 | 申请（专利权）人： | 清华大学;鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/49 | 分类号： | G01N21/49 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100084 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种碳纳米管观测装置，包括：一种一维纳米材料观测装置，包括：一第一光源与一第二光源，分别用于提供第一入射光与第二入射光，所述第一光源与所述第二光源为连续光谱光源；一承载装置，用于承载待测一维纳米材料及耦合液；以及一光学显微镜，用于观测所述待测一维纳米材料。本发明提供的观测装置可以观测任意形态结构及排列方向的一维纳米材料，获取该一维纳米材料的位置、形态及手性信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 材料 观测 装置 | ||
【主权项】：
1.一种一维纳米材料观测装置，其特征在于，包括：一第一光源与一第二光源，分别用于提供第一入射光与第二入射光，所述第一光源与所述第二光源为连续光谱光源；一承载装置，用于承载待测一维纳米材料及耦合液；以及一光学显微镜，用于观测所述待测一维纳米材料。
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