[发明专利]一种调焦调平检测装置有效
申请号: | 201710773193.8 | 申请日: | 2017-08-31 |
公开(公告)号: | CN109426093B | 公开(公告)日: | 2020-12-11 |
发明(设计)人: | 杨宣华;王海江 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20;G03F9/00 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种调焦调平检测装置,包括包括投影单元、探测单元和智能控制单元,所述投影单元发出入射光线入射到待测物表面形成区域测量标记,所述待测物将入射光线反射,形成携带有待测物表面信息的反射光线进入所述探测单元,所述智能控制单元对经过探测单元处理的反射光线进行再处理,得出所述待测物的位置信息。本发明所提供的调焦调平检测装置,区域测量标记可以覆盖待测物上一个区域,而不仅仅是单点,实现了区域测量,提高了效率,并且根据不同待测物可以采用不同大小的区域测量标记,从而提高了测量的准确性;并且采用智能控制单元,实现了实时测量。 | ||
搜索关键词: | 一种 调焦 检测 装置 | ||
【主权项】:
1.一种调焦调平检测装置,其特征在于,包括投影单元、探测单元和智能控制单元,所述投影单元发出入射光线入射到待测物表面形成区域测量标记,所述待测物将入射光线反射,形成携带有待测物表面信息的反射光线进入所述探测单元,所述智能控制单元对经过探测单元处理的反射光线进行再处理,得出所述待测物的位置信息。
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