[发明专利]一种增粘单元HMDS吹扫结构有效
申请号: | 201710769525.5 | 申请日: | 2017-08-31 |
公开(公告)号: | CN109427550B | 公开(公告)日: | 2021-04-16 |
发明(设计)人: | 姜宗伟;尹宁 | 申请(专利权)人: | 沈阳芯源微电子设备股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027;G03F7/16 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 | 代理人: | 汪海 |
地址: | 110168 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明涉及半导体匀胶显影技术领域,具体地说是一种增粘单元HMDS吹扫结构,其中上盘盖安装在支撑座上,上端盖安装在上盘盖中部,在所述支撑座的底板上设有凸台,所述热盘体固装于所述凸台上,晶圆置于所述热盘体上,上端盖、上盘盖、支撑座侧壁、凸台和热盘体围合成密封空间,在所述密封空间中设有整流板,且所述热盘体和整流板之间形成吹扫区域,所述整流板与上盘盖之间形成回风区域,吹扫区域中的气体由整流板边缘流入回风区域,所述上端盖内设有进气通道和走气槽,进气通道与吹扫区域相通,且所述进气通道的吹扫口为扩口结构,走气槽与回风区域相通,走气槽外槽壁上设有出气口。本发明提高了增粘单元HMDS吹扫均匀性,保证增粘效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 单元 hmds 结构 | ||
【主权项】:
1.一种增粘单元HMDS吹扫结构,其特征在于:包括上端盖(1)、上盘盖(2)、整流板(3)、支撑座(5)和热盘体(6),其中上盘盖(2)安装在支撑座(5)上,上端盖(1)安装在上盘盖(2)中部,在所述支撑座(5)的底板上设有凸台(9),所述热盘体(6)固装于所述凸台(9)上,晶圆(4)置于所述热盘体(6)上,上端盖(1)、上盘盖(2)、支撑座侧壁(10)、凸台(9)和热盘体(6)围合成密封空间,在所述密封空间中,在所述热盘体(6)上方设有整流板(3),且所述热盘体(6)和整流板(3)之间形成吹扫区域(12),所述整流板(3)与上盘盖(2)之间形成回风区域(15),吹扫区域(12)中的气体由整流板(3)边缘流入回风区域(15),所述上端盖(1)内设有进气通道(7)和走气槽(8),所述进气通道(7)与所述吹扫区域(12)相通,所述走气槽(8)与所述回风区域(15)相通,所述走气槽(8)外槽壁上设有出气口(11)。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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