[发明专利]一种集成电路高温老化测试装置

摘要

本发明公开了一种集成电路高温老化测试装置，包括电路系统和支撑机构；使用耐高温的PCB线路板作为引入高温箱内部的传输线的载体，设置多级接口板并使用可编程逻辑器件将输入的测试信号分别输出至多个插有待测模组的连接器，实现批量化测试；高温箱内设置可调节的支撑机构及锁紧装置，兼容不同尺寸的转接板，转接板之间的距离可调节，可兼容不同尺寸的待测模组；转接板完全在支撑机构的作用下保持水平，设定专用的供电线路，满足大电流供电的需求，防止出现连接器不能输送大电流的问题；直接接触线路板的组件均为绝缘材质，防止高温箱体上的电荷传输至模组中对模组运行造成影响。本发明结构简单，使用方便，成本低，稳定性高。

主权项

1.一种集成电路高温老化测试装置，包括电路系统和支撑机构；其特征在于，/n所述支撑机构包括底座（24），底座（24）上设有相互平行的两组第二轨道（25），底座（24）上设有垂直于底座（24）放置的立板（13），立板（13）底部形成内嵌于第二轨道（25）的凸起部；所述立板（13）底部与角钢（14）一边连接，角钢（14）另一边中部形成螺纹通孔并且紧贴底座（24），螺纹通孔中设有第一螺栓（19）；所述立板（13）两侧各形成一条贯穿立板（13）且垂直于底座（24）的第一轨道（18）；第一轨道（18）中设有夹具组，夹具组包括U型的夹子（17），第二螺栓（21）依次贯穿夹板（20）和第一轨道（18），末端旋入U型的夹子（17）底部；底座（24）一端的两侧各设有一根垂直于底座（24）的第二支撑柱（16），所述第二支撑柱（16）上形成外螺纹，第二支撑柱（16）上嵌套嵌位托（15），嵌位托（15）中部向四周凸起形成扁平的圆环形翼部；/n所述电路系统包括第一接口板（3），第一接口板（3）上设有电源模块（26）和第二连接器（7），第一接口板（3）通过部署于底部的第一连接器（6）垂直连接第二接口板（8），第二接口板（8）上设有多个第三连接器（11）；第一接口板（3）上第一连接器（6）两侧形成圆形通孔，穿线管（10）穿过圆形通孔且垂直于第一接口板（3）；所述穿线管（10）上形成不少于一个圆形出线孔（23）；电源模块（26）的输出端通过高温导线（27）向外引出，高温导线（27）穿过穿线管（10）并形成多个分支，分别从各个出线孔（23）中穿出；第三接口板（9）一端形成嵌入第三连接器（11）的金手指，第三接口板（9）上设有作为电源输入插头的第五连接器（22），第三接口板（9）上还设有不少于四个用于插入待检测模组的第四连接器（12）；/n所述第一接口板（3）上设有可编程逻辑器件，可编程逻辑器件输入端连接第二连接器（7），输出端连接第一连接器（6）；第二连接器（7）通过线缆连接测试主机；第一连接器（6）的各个管脚以链式或星型连接方式与第三连接器（11）上的各个管脚连接，每个第三连接器（11）的管脚分别以链式或星型连接方式与插接在该第三连接器（11）中的第三接口板（9）上的第四连接器（12）的对应管脚连接，每个第三接口板（9）上的第五连接器（22）的各管脚分别与该第三接口板（9）上的第四连接器（12）中的电源管脚相连。/n