[发明专利]一种集成电路高温老化测试装置

权利要求书

1.一种集成电路高温老化测试装置，包括电路系统和支撑机构；其特征在于，

所述支撑机构包括底座（24），底座（24）上设有相互平行的两组第二轨道（25），底座（24）上设有垂直于底座（24）放置的立板（13），立板（13）底部形成内嵌于第二轨道（25）的凸起部；所述立板（13）底部与角钢（14）一边连接，角钢（14）另一边中部形成螺纹通孔并且紧贴底座（24），螺纹通孔中设有第一螺栓（19）；所述立板（13）两侧各形成一条贯穿立板（13）且垂直于底座（24）的第一轨道（18）；第一轨道（18）中设有夹具组，夹具组包括U型的夹子（17），第二螺栓（21）依次贯穿夹板（20）和第一轨道（18），末端旋入U型的夹子（17）底部；底座（24）一端的两侧各设有一根垂直于底座（24）的第二支撑柱（16），所述第二支撑柱（16）上形成外螺纹，第二支撑柱（16）上嵌套嵌位托（15），嵌位托（15）中部向四周凸起形成扁平的圆环形翼部；

所述电路系统包括第一接口板（3），第一接口板（3）上设有电源模块（26）和第二连接器（7），第一接口板（3）通过部署于底部的第一连接器（6）垂直连接第二接口板（8），第二接口板（8）上设有多个第三连接器（11）；第一接口板（3）上第一连接器（6）两侧形成圆形通孔，穿线管（10）穿过圆形通孔且垂直于第一接口板（3）；所述穿线管（10）上形成不少于一个圆形出线孔（23）；电源模块（26）的输出端通过高温导线（27）向外引出，高温导线（27）穿过穿线管（10）并形成多个分支，分别从各个出线孔（23）中穿出；第三接口板（9）一端形成嵌入第三连接器（11）的金手指，第三接口板（9）上设有作为电源输入插头的第五连接器（22），第三接口板（9）上还设有不少于四个用于插入待检测模组的第四连接器（12）；

所述第一接口板（3）上设有可编程逻辑器件，可编程逻辑器件输入端连接第二连接器（7），输出端连接第一连接器（6）；第二连接器（7）通过线缆连接测试主机；第一连接器（6）的各个管脚以链式或星型连接方式与第三连接器（11）上的各个管脚连接，每个第三连接器（11）的管脚分别以链式或星型连接方式与插接在该第三连接器（11）中的第三接口板（9）上的第四连接器（12）的对应管脚连接，每个第三接口板（9）上的第五连接器（22）的各管脚分别与该第三接口板（9）上的第四连接器（12）中的电源管脚相连。

2.如权利要求1所述的一种集成电路高温老化测试装置，其特征在于，所述夹板（20）的宽度大于第一轨道（18）的宽度。

3.如权利要求1所述的一种集成电路高温老化测试装置，其特征在于，所述第一轨道（18）中设有不少于一个夹具组，第二支撑柱（16）上嵌套嵌位托（15）的数量不少于一个。

4.如权利要求1所述的一种集成电路高温老化测试装置，其特征在于，所述底座（24）、立板（13）、夹板（20）均为不锈钢材质；所述夹子（17）、嵌位托（15），穿线管（10）均为聚四氟乙烯材质。

5.如权利要求1所述的一种集成电路高温老化测试装置，其特征在于，所述第一接口板（3）四角设有第一支撑柱（5），第一支撑柱（5）通过第一螺母（4）与第一接口板（3）锁紧固定。

6.如权利要求1所述的一种集成电路高温老化测试装置，其特征在于，所述第二接口板（8）、第三接口板（9）、第三连接器（11）、第四连接器（12）、第五连接器（22）均为耐高温材质。

7.如权利要求1所述的一种集成电路高温老化测试装置，其特征在于，所述第二接口板（8）为多层PCB板。

8.如权利要求1所述的一种集成电路高温老化测试装置，其特征在于，所述支撑机构部署于高温箱（1）内，第一接口板（3）部署于高温箱（1）顶部，第二接口板（8）穿过高温箱（1）顶部的孔道（2）穿入高温箱（1）内部，第三接口板（9）一端嵌入第三连接器（11），另一端嵌入夹子（17），两侧搭在嵌位托（15）的翼部，并保持与水平面平行放置；所述高温导线（27）各分支的末端分别就近插入第五连接器（22）中，待检测模组插入第四连接器（12）中。