[发明专利]一种用于在光学测量仪上测量螺纹参数的调节装置在审

专利信息
申请号: 201710764756.7 申请日: 2017-08-30
公开(公告)号: CN107449362A 公开(公告)日: 2017-12-08
发明(设计)人: 韦崇福;赵本春;肖斌;钟宏伟;邱海庆 申请(专利权)人: 江西昌河航空工业有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 中国航空专利中心11008 代理人: 王迪
地址: 333002*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 发明属于螺纹检测领域。提出一种用于在光学测量仪上测量螺纹参数的调节装置,平台(1)上安装定位台(2)和角度调节器(5),角度调节器(5)侧面安装有摇动手柄(6),定位台(2)中部安装滚动轴(4),定位台(2)侧边安装调整螺钉(3),检测平台(9)上部为平面,下部设置有两个呈圆弧的筋安放在滚动轴(4)上,检测平台长度方向一侧安装有齿条(7);检测平台(9)上设有刻度盘(8),检测平台(9)上部平行于长度方向上安装两条滑轨(10),滑轨(10)长度两边安装滑块(11),滑块(11)上安装顶尖(12),滑轨(10)长度两端安装定位块(13),定位块(13)上安装有调节螺母(14)。
搜索关键词: 一种 用于 光学 测量仪 测量 螺纹 参数 调节 装置
【主权项】:
一种用于在光学测量仪上测量螺纹参数的调节装置,其特征在于,平台(1)上安装四个定位台(2),一个角度调节器(5),角度调节器(5)侧面安装有摇动手柄(6),定位台(2)中部安装滚动轴(4),定位台(2)侧边安装调整螺钉(3),检测平台(9)上部为平面,下部设置有两个呈圆弧的筋,两个呈圆弧的筋安放在滚动轴(4)上,能够围绕圆弧的圆心进行转动,检测平台长度方向一侧安装有与角度调节器(5)配合的齿条(7),摇动手柄(6),推动角度调节器(5)转动,传递到齿条(7)上,实现检测平台的转动;检测平台(9)上设有刻度盘(8),检测平台(9)上部平行于长度方向上安装两条滑轨(10),滑轨(10)长度两边安装滑块(11),滑块(11)上安装顶尖(12),滑轨(10)长度两端方向安装有定位块(13),定位块(13)上安装有调节螺母(14),通过调节螺母(14)推动滑块(11)运动,使顶尖(12)对工件(15)进行定位。
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