[发明专利]半导体器件有效
| 申请号： | 201710751214.6 | 申请日： | 2017-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN107872225B | 公开（公告）日： | 2023-09-01 |
| 发明（设计）人： | 吉冈佑记 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | H03M1/08 | 分类号： | H03M1/08 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 李辉;董典红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及半导体器件。根据一个方面，半导体器件(1)包括：被配置为接收模拟信号的输入电路(11_1)，所述模拟信号和数字信号被选择性地输入；被配置为由与所述输入电路(11_1)共用的电源驱动并接收数字信号的输入电路(11_4)，所述数字信号和模拟信号被选择性地输入；AD转换器(15)，被配置为对输入到所述输入电路(11_1)的模拟信号进行AD转换；边沿检测电路(12)，被配置为检测输入到输入电路(11_4)的数字信号的边沿；以及控制单元(13)，被配置为基于所述边沿检测电路(12)的检测的结果，对所述AD转换器(15)的AD转换的结果执行预定处理。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 | ||
【主权项】：
一种半导体器件，包括：第一输入电路，被配置为接收第一模拟信号，所述第一模拟信号和第一数字信号被选择性地输入；第二输入电路，被配置为由与所述第一输入电路共用的电源驱动并接收第二数字信号，所述第二数字信号和第二模拟信号被选择性地输入；AD转换器，被配置为对输入到所述第一输入电路的所述第一模拟信号进行AD转换；边沿检测电路，被配置为检测输入到所述第二输入电路的所述第二数字信号的边沿；和控制单元，被配置为基于所述边沿检测电路的所述检测的结果，对所述AD转换器的所述AD转换的结果执行预定处理。
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