[发明专利]半导体器件

权利要求书

1.一种半导体器件，包括：

第一输入电路，被配置为接收第一模拟信号，所述第一模拟信号和第一数字信号被选择性地输入；

第二输入电路，被配置为由与所述第一输入电路共用的电源驱动并接收第二数字信号，所述第二数字信号和第二模拟信号被选择性地输入；

AD转换器，被配置为对输入到所述第一输入电路的所述第一模拟信号进行AD转换；

边沿检测电路，被配置为检测输入到所述第二输入电路的所述第二数字信号的边沿；和

控制单元，被配置为基于所述边沿检测电路的所述检测的结果，对所述AD转换器的所述AD转换的结果执行预定处理。

2.根据权利要求1所述的半导体器件，还包括第三输入电路，所述第三输入电路被配置为由与所述第一输入电路共用的所述电源驱动并接收第三数字信号，所述第三数字信号和第三模拟信号被选择性地输入，

其中除了输入到所述第二输入电路的所述第二数字信号的边沿之外，所述边沿检测电路还检测输入到所述第三输入电路的所述第三数字信号的边沿。

3.根据权利要求1所述的半导体器件，其中，当在所述AD转换器的所述AD转换期间所述边沿检测电路没有检测到边沿时，所述控制单元获取所述AD转换器的所述AD转换的结果。

4.根据权利要求3所述的半导体器件，其中当在所述AD转换器的所述AD转换期间所述边沿检测电路检测到边沿时，所述控制单元不获取所述AD转换器的所述AD转换的结果。

5.根据权利要求3所述的半导体器件，还包括：

结果存储单元，被配置为存储由所述控制单元获取的所述AD转换的结果；和

测量单元，被配置为测量所述结果存储单元中存储所述AD转换的结果的时段。

6.根据权利要求1所述的半导体器件，其中，所述控制单元获取由所述AD转换器获得的m次连续的AD转换的结果并对所述AD转换的结果求平均，以及获取在所述m次AD转换中所述边沿检测电路检测到边沿的次数作为可靠性信息，其中，m为大于或等于2的整数。

7.根据权利要求6所述的半导体器件，还包括：

结果存储单元，被配置为存储由所述控制单元获取的所述m次AD转换的结果和所述m次AD转换的结果的平均值；和

计数器，被配置为对在所述m次AD转换中所述边沿检测电路检测到边沿的次数进行计数。

8.一种半导体器件，包括：

第一输入电路，被配置为接收模拟信号；

第二输入电路，被配置为由与所述第一输入电路共用的电源驱动并接收数字信号；

AD转换器，被配置为对输入到所述第一输入电路的所述模拟信号进行AD转换；

边沿检测电路，被配置为检测输入到所述第二输入电路的所述数字信号的边沿并且输出检测结果；和

控制单元，被配置为接收所述检测结果并且当所述检测结果指示在所述AD转换器的所述AD转换期间所述边沿检测电路没有检测到边沿时，获取所述AD转换器的所述AD转换的结果。

9.根据权利要求8所述的半导体器件，其中当在所述AD转换器的所述AD转换期间所述边沿检测电路检测到边沿时，所述控制单元不获取所述AD转换器的所述AD转换的结果。

10.一种半导体器件，包括：

第一输入电路，被配置为接收模拟信号；

第二输入电路，被配置为由与所述第一输入电路共用的电源驱动并接收数字信号；

AD转换器，被配置为对输入到所述第一输入电路的所述模拟信号进行AD转换；

边沿检测电路，被配置为检测输入到所述第二输入电路的所述数字信号的边沿；和

控制单元，被配置为获取由所述AD转换器获得的m次连续的AD转换的结果并对所述AD转换的结果求平均，以及获取在所述m次AD转换中所述边沿检测电路检测到边沿的次数作为可靠性信息，其中，m为大于或等于2的整数。