[发明专利]一种晶体能量校正方法和装置在审
| 申请号： | 201710741305.1 | 申请日： | 2017-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN107569249A | 公开（公告）日： | 2018-01-12 |
| 发明（设计）人： | 高鹏;杨龙;宁鹏;梁国栋;张军 | 申请（专利权）人： | 沈阳东软医疗系统有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司11415 | 代理人： | 陈蕾,靳玫 |
| 地址： | 110167 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本公开提供一种晶体能量校正方法和装置，其中，该方法可以由主机设备中的控制器执行，所述主机设备还包括探测器模块，该方法可以包括控制器获取所述探测器模块中的各个晶体的能量分布信息，每个晶体的所述能量分布信息包括所述晶体探测到的各个光子能量、以及分别对应各光子能量的计数；控制器根据理想能量分布信息和各个晶体的所述能量分布信息，分别获取对应各个晶体的能量校正参数；控制器根据所述能量校正参数，对所述探测器模块中的各个晶体进行能量一致性校正。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体 能量 校正 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种晶体能量校正方法，其特征在于，所述方法由主机设备中的控制器执行，所述主机设备还包括探测器模块，所述方法包括：所述控制器获取所述探测器模块中的各个晶体的能量分布信息，每个晶体的所述能量分布信息包括：所述晶体探测到的各个光子能量、以及分别对应各光子能量的计数；所述控制器根据理想能量分布信息和各个晶体的所述能量分布信息，分别获取对应各个晶体的能量校正参数；所述控制器根据所述能量校正参数，对所述探测器模块中的各个晶体进行能量一致性校正。
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