[发明专利]一种晶体能量校正方法和装置

权利要求书

1.一种晶体能量校正方法，其特征在于，所述方法由主机设备中的控制器执行，所述主机设备还包括探测器模块，所述方法包括：

所述控制器获取所述探测器模块中的各个晶体的能量分布信息，每个晶体的所述能量分布信息包括：所述晶体探测到的各个光子能量、以及分别对应各光子能量的计数；

所述控制器根据理想能量分布信息和各个晶体的所述能量分布信息，分别获取对应各个晶体的能量校正参数；

所述控制器根据所述能量校正参数，对所述探测器模块中的各个晶体进行能量一致性校正。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制器是现场可编程门阵列FPGA。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制器采集所述探测器模块中的各个晶体的能量分布信息，包括：

所述控制器通过与所述探测器模块对应的阵列结构，采集所述探测器模块中的各个晶体的能量分布信息；

所述阵列结构中包括分别与所述各个晶体一一对应的处理单元；

所述处理单元，采集对应的晶体的能量分布信息，并将所述能量分布信息存储至所述控制器中的存储单元。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制器根据理想能量分布信息和各个晶体的能量分布信息，分别获取对应各个晶体的能量校正参数，包括：

所述控制器根据各个晶体的所述能量分布信息，分别得到对应每个晶体的能量分布曲线；

将所述能量分布曲线与理想能量分布信息对应的标准分布曲线比较，得到用于能量校正的所述能量校正参数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

所述控制器实时采集所述探测器模块中的各个晶体的能量分布信息；

若所述实时的能量分布信息与理想能量分布信息的差异超出预设范围，则所述控制器调整所述能量分布信息对应的晶体的能量校正参数。

6.一种医疗扫描设备，其特征在于，所述设备包括：多个探测器模块，每个探测器模块包括多个晶体；还包括与所述探测器模块连接的控制器；

所述探测器模块，用于通过所述各个晶体探测γ光子的光子能量；

所述控制器，用于采集探测器模块中的各个晶体的能量分布信息，每个晶体的所述能量分布信息包括：所述晶体探测到的各个光子能量、以及分别对应各光子能量的计数；根据理想能量分布信息和各个晶体的所述能量分布信息，分别获取对应各个晶体的能量校正参数；根据所述能量校正参数，对所述探测器模块中的各个晶体进行能量一致性校正。

7.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述控制器是现场可编程门阵列FPGA。

8.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述控制器包括：与所述探测器模块对应的阵列结构，所述阵列结构包括分别与所述探测器模块中的各个晶体一一对应的处理单元，所述控制器还包括存储单元；

所述处理单元，用于采集对应的晶体的能量分布信息，并将所述能量分布信息存储至所述存储单元。

9.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述控制器，在用于获取能量校正参数时，包括：根据各个晶体的所述能量分布信息，分别得到对应每个晶体的能量分布曲线；将所述能量分布曲线与理想能量分布信息对应的标准分布曲线比较，得到用于能量校正的所述能量校正参数。

10.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，

所述控制器，还用于：实时采集所述探测器模块中的各个晶体的能量分布信息；若所述实时的能量分布信息与理想能量分布信息的差异超出预设范围，则调整所述能量分布信息对应的晶体的能量校正参数。