[发明专利]一种利用磁流体光波导检测磁场的方法在审
| 申请号： | 201710713818.1 | 申请日： | 2017-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN107621613A | 公开（公告）日： | 2018-01-23 |
| 发明（设计）人： | 袁文;王贤平;罗海梅;桑明煌;郭琴;况庆强 | 申请（专利权）人： | 江西师范大学 |
| 主分类号： | G01R33/032 | 分类号： | G01R33/032 |
| 代理公司： | 南昌华成联合知识产权代理事务所(普通合伙)36126 | 代理人： | 黄晶 |
| 地址： | 330000 *** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 一种利用磁流体光波导检测磁场的方法，将磁流体注入毫米尺度的双面金属光波导中，形成磁流体平板光波导，利用毫米尺度双面金属光波导超高阶导模的高灵敏特性，检测磁感应强度，光波导片粘在电磁铁上，给电磁铁通电，产生磁场，磁流体在磁场的作用下，其纳米颗粒会发生团聚现象，光波导中的磁流体处于导模共振状态，光波导中光场密度非常高，使得其中的磁流体具有了很多新的光学特性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 流体 波导 检测 磁场 方法 | ||
【主权项】：
一种利用磁流体光波导检测磁场的方法，其特征在于，将磁流体注入毫米尺度的双面金属光波导中，形成磁流体平板光波导，利用毫米尺度双面金属光波导超高阶导模的高灵敏特性，检测磁感应强度，光波导片粘在电磁铁上，给电磁铁通电，产生磁场，磁流体在磁场的作用下，其纳米颗粒会发生团聚现象，使光波导中的磁流体成链，影响光波导的光学参数变化，从而使光波导反射光强度与磁场一致变化，磁流体的这些光学特性是由于磁流体在磁场作用下折射率的变化引起的，采用波长为860nm的激光入射到磁流体光波导中，测量衰减全反射吸收峰ATR，由于吸收峰的极小值Rmin与磁流体光波导光学参数密切相关，可通过ATR吸收峰的变化实现磁感应强度的检测，当磁流体波导处于导模共振时，其折射率的改变对反射光强的变化影响非常大，其折射率的敏感达到10‑5RIU，所以在此所加的磁感应强度比较小，可检测磁场50μT的变化。
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