[发明专利]一种首径到达时差测量方法和装置有效

专利信息
申请号: 201710713045.7 申请日: 2017-08-18
公开(公告)号: CN109412990B 公开(公告)日: 2021-11-09
发明(设计)人: 陈诗军;王园园;陈大伟;陈强;武世勇;袁泉 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: H04L27/26 分类号: H04L27/26;H04W64/00
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 潘登
地址: 518057 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例公开了一种首径到达时差测量方法和装置,该方法包括:接收端获取正交频分复用OFDM定位符号数据,并生成本地过采样信号;所述接收端根据所述OFDM定位符号数据和所述本地过采样信号计算得到过采样循环相关函数序列,对所述过采样循环相关函数序列进行后沿检测和前沿补全;所述接收端对进行后沿检测和前沿补全之后的过采样循环相关函数序列执行首径到达时差TDOA估计。本发明实施例中在接收端本地生成过采样信号,并对该信号进行后沿检测和前沿补全,而后再进行TOA和TDOA估计,去除多径带来的影响,提高定位精度,即使在室内环境下,依然能够得到高精度的定位信息。
搜索关键词: 一种 到达 时差 测量方法 装置
【主权项】:
1.一种首径到达时差测量方法,其特征在于,包括:接收端获取正交频分复用OFDM定位符号数据,并生成本地过采样信号;所述接收端根据所述OFDM定位符号数据和所述本地过采样信号计算得到过采样循环相关函数序列,对所述过采样循环相关函数序列进行后沿检测和前沿补全;所述接收端对进行后沿检测和前沿补全之后的过采样循环相关函数序列执行首径到达时差TDOA估计。
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