[发明专利]一种高平坦度中强磁场测量线圈的设计方法有效
申请号: | 201710696083.6 | 申请日: | 2017-08-15 |
公开(公告)号: | CN107607893B | 公开(公告)日: | 2019-09-27 |
发明(设计)人: | 杨云;周鹰;姜浩;宋新昌;胡圣航 | 申请(专利权)人: | 中国船舶重工集团公司第七一0研究所 |
主分类号: | G01R33/07 | 分类号: | G01R33/07;G01R33/00 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 郭德忠;仇蕾安 |
地址: | 443003 *** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种高平坦度中强磁场测量线圈的设计方法,属于交变磁场测量技术领域;首先,设计测量线圈的骨架:然后,根据被测量交变磁场的幅值变化范围和被测量交变磁场的频带变化范围,计算出理论线圈常数值;再根据骨架的外径和封胶厚度确定测量线圈绕组的平均半径;并计算线圈绕组的匝数后并取整;根据以上数值计算测量线圈绕组的结构参数,包括绕组的每层匝数、绕组的层数、绕组的高度、测量线圈绕组的有效半径及实际线圈常数值;根据设计的结构参数加工线圈骨架,使用绕线机绕制,匝数和层数按照设计的参数进行完成绕制,封胶固定完成输出电缆的加工,得到线圈的真实线圈常数值;最后,设计测量线圈匹配的电容和电阻使线圈的阻抗不因频带变化而变化。 | ||
搜索关键词: | 一种 平坦 度中强 磁场 测量 线圈 设计 方法 | ||
【主权项】:
1.一种高平坦度中强磁场测量线圈的设计方法,其特征在于,第一步,设计测量线圈的骨架:所述测量线圈的骨架由三段直径不同的柱形结构组成,其中中间段的直径最小,从而在两端的柱形结构之间形成一个环形腔,该环形腔为测量线圈的安装槽;所述测量线圈选用带绝缘漆的铜制导线,导线的线径s为0.06mm~0.1mm,层排系数f为1.15,层间系数q为1.22;所述骨架的中心加工有轴向通孔,轴向通孔的半径为r,r为外部绕线机夹具孔距的两倍;所述骨架两端柱形结构中直径较小的柱形结构的外径为D,D为被测量交变磁场均匀区直径的2/3,所述骨架的整体厚度为H,H为D/4~D/6;所述骨架的壁厚为k;所述安装槽的宽度即测量线圈绕装形成绕组后的绕组厚度h为H‑2k;设所述绕组的封胶厚度为a;第二步,根据被测量交变磁场的幅值变化范围△B和被测量交变磁场的频带变化范围△f,计算出理论线圈常数值KSW,计算公式为:
其中,△U为设定的测量线圈输出电压的最大变化量;第三步,根据第一步中已设计好的骨架的外径D和封胶厚度a及公式(2)确定测量线圈绕组的平均半径R';
第四步,根据第二步的理论线圈常数值KSW和第三步的测量线圈绕组的平均半径R'及公式(3)计算线圈绕组的匝数N',
得到N'后,对N'进行近似取整后得到匝数N;第五步,根据第一步中确定的参数及第四步中的匝数N,计算测量线圈绕组的结构参数,包括绕组的每层匝数NC、绕组的层数n、绕组的高度d、测量线圈绕组的有效半径R及实际线圈常数值K'SW;(1)已知测量线圈绕组的厚度h、测量线圈的线径s及层排系数f,根据
得到绕组的每层匝数NC,并对NC进行取整;(2)已知匝数N和取整后的NC,根据
得到绕组的层数n,并对n进行取整;(3)已知取整后的n、测量线圈的线径s及层间系数q,根据d=n×q×s,得到绕组的高度d;(4)已知绕组的高度d、骨架轴向通孔的半径r及骨架的壁厚k,根据
得到测量线圈绕组的有效半径R;(5)已知测量线圈绕组的有效半径R和匝数N,根据K'SW=N·πR2,得到实际线圈常数值K'SW,即测量线圈的匝面积;第六步,按照第五步中得到的绕组的每层匝数NC、绕组的层数n及绕组的高度d,将测量线圈通过外部的绕线机绕装在所述安装槽中形成测量线圈绕组,且进、出铜制导线的引线预留设定长度;绕装完后按照设定的封胶厚度a将测量线圈封胶固定。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国船舶重工集团公司第七一0研究所,未经中国船舶重工集团公司第七一0研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710696083.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:磁图像传感器
- 下一篇:磁共振成像方法和系统