[发明专利]一种电路板寿命预测方法在审
| 申请号： | 201710680450.3 | 申请日： | 2017-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN109388830A | 公开（公告）日： | 2019-02-26 |
| 发明（设计）人： | 袁莹莹;张旭辉;王征宇;彭再武;唐广笛;杜绍华 | 申请（专利权）人： | 湖南中车时代电动汽车股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京聿华联合知识产权代理有限公司 11611 | 代理人： | 朱绘;张文娟 |
| 地址： | 412007 湖南省株洲*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电路板寿命预测方法，所述方法包括：根据目标电路板的板型设计确定所述目标电路板的潜在故障点以及对应的故障机理和故障物理模型；基于所述故障物理模型，综合每个所述潜在故障点对应的所有故障机理，计算获取每个所述潜在故障点的寿命概率密度函数；根据所有所述潜在故障点的寿命概率密度函数，结合竞争失效算法，构建所述目标电路板的寿命概率密度函数，计算获取所述目标电路板的寿命。本发明的方法过程简单，不需要实体的测试用电路板；相较于现有技术，本发明的方法成本低、具有很高的灵活性，可以大大缩短电路板的开发周期、节约电路板的试验费用。 | ||
| 搜索关键词： | 电路板 目标电路板 潜在故障 概率密度函数 故障机理 故障物理 寿命预测 结合竞争 开发周期 失效算法 试验费用 板型 构建 测试 节约 | ||
【主权项】：
1.一种电路板寿命预测方法，其特征在于，所述方法包括：根据目标电路板的板型设计确定所述目标电路板的潜在故障点以及对应的故障机理和故障物理模型；基于所述故障物理模型，综合每个所述潜在故障点对应的所有故障机理，计算获取每个所述潜在故障点的寿命概率密度函数；根据所有所述潜在故障点的寿命概率密度函数，结合竞争失效算法，构建所述目标电路板的寿命概率密度函数，计算获取所述目标电路板的寿命。
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