[发明专利]一种实时测量宽域等离子体密度的方法及系统有效
| 申请号： | 201710660296.3 | 申请日： | 2017-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN109387455B | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 周艳;王浩西 | 申请（专利权）人： | 核工业西南物理研究院 |
| 主分类号： | G01N9/24 | 分类号： | G01N9/24 |
| 代理公司： | 核工业专利中心 11007 | 代理人： | 高安娜 |
| 地址： | 610041 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明属于等离子体密度诊断技术，具体公开了一种实时测量宽域等离子体密度的方法及系统，搭建由激光光源，两个倍频晶体、调制器、数据处理单元等组成的系统，将激光光源，通过倍频方法转变成同轴传输的两束不同频率的光，利用调制技术和信号搬移技术将两束光通过被测量介质的相位差鉴别出来，并实时记录和输出，这个相位差与介质的待测密度有关,从而获得密度的实时测量结果，测量范围宽，测量束偏折小，无振动影响的等离子体电子密度测量方法和系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 实时 测量 等离子体 密度 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种实时测量宽域等离子体密度的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1)将源光束通过倍频方法转变成同轴传输的两束不同频率的光，偏振方向互相垂直；步骤2)将步骤1)得出的两束光通过调制器，使得与调制器偏振方向平行的倍频光相位被调制，源光不被调制，确定被测量介质前的相位；步骤3)经过待测介质后，确定两束光的相位；步骤4)通过倍频方法将步骤3的源光束产生第二个倍频光，并分别确定两束倍频光通过待测介质后的相位差；步骤5)利用光通过该介质的相位差，确定待测介质的密度。
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