[发明专利]一种测定激光器整体结构特征频率的方法

摘要

本发明公开了一种测定激光器整体结构特征频率的方法，需要激励发生子系统、激光器饱和吸收稳频子系统、数据采集子系统共同实现。首先激光器饱和吸收稳频子系统将激光器输出频率锁定在K原子某一超精细能级饱和吸收峰上；然后激励发生子系统中的函数发生器控制全频喇叭产生声波，对激光器外壳施加从低频到高频扫频激励；同时数据采集子系统在触发模式下用NI板卡和接线盒采集光电探测器的输出电压；分析数据时，在某些频率附近的电压值具有峰型线型，这些频率中心点就是激光器整体结构的特征频率。本方法能够在各种实际工作环境中精确测定激光器整体结构的特征频率，为超高灵敏原子惯性、磁场测量的实验结果误差分析提供支持。

主权项

一种测定激光器整体结构特征频率的方法，其特征在于：该方法利用的装置包括激励发生子系统(1)、激光器饱和吸收稳频子系统(2)、数据采集子系统(3)，其中，激励发生子系统(1)利用函数发生器(11)产生控制信号，输入到全频喇叭(13)上产生扫频声压，作用于激光器整体结构上；激光器饱和吸收稳频子系统(2)通过光电探测器(28)产生对应于稳定频率的电压信号，用作检测激光器整体结构特征频率的敏感源；数据采集子系统(3)用NI板卡(32)和接线盒(31)高速采集光电探测器输出的模拟电压信号；在激励发生子系统(1)中，函数发生器(11)产生频率从低到高线性变化的正弦扫频电压信号，控制全频喇叭(13)，设置成手动触发模式，使激励信号频率与信号采集系统采集到的电压保持同步；激光器饱和吸收稳频子系统(2)采用K原子的超精细能级饱和吸收峰作为稳频点，对应稳定的电压信号，在此基础上由激光器(21)对激励信号的频域响应来分析激光器整体结构的特征频率；数据采集子系统(3)中，函数发生器(11)产生的触发脉冲控制NI接线盒(31)同步采集光电探测器(28)输出的电压信号；在某些频率附近的电压值具有峰型线型，这些频率中心点就是激光器整体结构的特征频率。