[发明专利]一种激光测量系统及方法在审
| 申请号： | 201710635430.4 | 申请日： | 2017-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN107290753A | 公开（公告）日： | 2017-10-24 |
| 发明（设计）人： | 李双飞 | 申请（专利权）人： | 艾博特镭射科技徐州有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/08 | 分类号： | G01S17/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 221243 江苏省徐州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种激光测量系统及方法，该设备包括锁相环电路、调制发射电路、光信号接收电路、光学透镜和鉴相器。所述锁相环电路分别与调制发射电路、光信号接收电路和鉴相器连接。激光测距方法，将测量光束照射到被测物体表面，反射回来的激光信号通过光学透镜被光信号接收电路转换成电信号，该信号和本振信号通过光信号接收电路的混频作用，得到低频率的差频信号，将差频信号进一步放大送到鉴相器和基准信号做相位比较得到相位差，从而得出被测物体的距离值。本发明采用新型的单发单收方式工作，不需要机械式可活动档板，也不需要另外增加高频混频电路，简化了电路设计，避免了电路器件导致相移问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种激光测量系统，其特征在于：包括锁相环电路、调制发射电路、光信号接收电路、光学透镜和鉴相器，所述锁相环电路分别与调制发射电路、光信号接收电路和鉴相器连接，用于产生高频信号、本振信号和基准信号；所述调制发射电路用于接入高频信号并产生测量光束；所述光信号接收电路用于接入本振信号和接收经过光学透镜聚焦的激光反射信号，经混频得到差频信号；所述鉴相器用于接收基准信号和差频信号，并将基准信号和差频信号进行相位比较得到相位差，进而得出被测物体的距离值。
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