[发明专利]测量设备、测量方法及程序有效
| 申请号： | 201710616267.7 | 申请日： | 2017-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN107650350B | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 早野绫一郎;野原康弘;井伊谷育典;关口翔 | 申请（专利权）人： | 双叶电子工业株式会社 |
| 主分类号： | B29C45/76 | 分类号： | B29C45/76 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 延美花;臧建明 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测量设备、测量方法及程序。本发明使得具有多个输入通道的测量设备能够进行射出成型装置的准确的成型状况判定。对于输入到测量设备的多个输入通道的、配备于射出成型装置的一个或多个传感器的检测信号检测各自的特定定时，例如检测能够评价为上升定时、下降定时等的定时。然后对于检测出的特定定时，通过相互比较、经过时间判定等处理，求出射出成型状况的判定结果。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 设备 测量方法 程序 | ||
【主权项】：
一种测量设备，包括：输入部，其具有多个输入通道，能够同时输入配备于射出成型装置的多个传感器的检测信号；数据记录处理部，其将向所述输入部的各输入通道输入的各时间点的检测信号值作为记录数据来存储；判定处理部，其对于一个或多个输入通道的检测信号，检测特定定时，并根据利用了检测出的特定定时的处理求出射出成型状况的判定结果。
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