[发明专利]缺陷像素检测方法和装置、计算机设备和机器可读存储介质在审
| 申请号： | 201710613423.4 | 申请日： | 2017-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN107421959A | 公开（公告）日： | 2017-12-01 |
| 发明（设计）人： | 罗昌;李忠伟 | 申请（专利权）人： | 昆山国显光电有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01R19/00 |
| 代理公司： | 北京布瑞知识产权代理有限公司11505 | 代理人： | 孟潭 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种缺陷像素检测方法、缺陷像素检测装置以及计算机设备，解决了现有缺陷像素检测方式的检测准确度不高的问题。其中的缺陷像素检测方法包括以下步骤将显示器件上至少部分像素中每个像素的光强经过光电转换后的电压值与一个与该像素对应的第一平衡系数做差值计算，以获取所述至少部分像素中每个像素对应的第一差值计算结果；以及判断步骤，所述判断步骤包括判断所述第一差值计算结果的绝对值大于预设阈值的像素的个数是否大于预设个数；如果判断结果为是，则判定为当前显示器件的缺陷像素的个数不在允许范围内；否则，判定为当前显示器件的缺陷像素的个数在允许范围内。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 像素 检测 方法 装置 计算机 设备 机器 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
一种缺陷像素检测方法，其特征在于，包括：将显示器件上至少部分像素中每个像素的光强经过光电转换后的电压值与一个与该像素对应的第一平衡系数做差值计算，以获取所述至少部分像素中每个像素对应的第一差值计算结果；以及判断步骤，所述判断步骤包括：判断所述第一差值计算结果的绝对值大于预设阈值的像素的个数是否大于预设个数；如果判断结果为是，则判定为当前显示器件的缺陷像素的个数不在允许范围内；否则，判定为当前显示器件的缺陷像素的个数在允许范围内。
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